[实用新型]闪烁探测器的坪特性测试系统有效
| 申请号： | 201020046805.7 | 申请日： | 2010-01-14 |
| 公开（公告）号： | CN201689178U | 公开（公告）日： | 2010-12-29 |
| 发明（设计）人： | 程现琪 | 申请（专利权）人： | 北京滨松光子技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01T1/20 | 分类号： | G01T1/20 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100070 北京市丰*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种应用于闪烁探测器领域的坪特性测试系统，包括依次连接的高压电源、闪烁探测系统、线性放大器和单道脉冲分析器，还包括单片机和计算机，所述单片机与所述单道脉冲分析器通信连接、与所述计算机之间采用RS232串口通信、同时对高压和计数率进行控制，本实用新型可以直接将数据存入计算机中，便于存储管理，需要的时候可以通过打印机打印出来，不需要特制的纸张，方便使用、降低成本，利于推广。 | ||
| 搜索关键词： | 闪烁 探测器 特性 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种闪烁探测器的坪特性测试系统，包括依次连接的高压电源、闪烁探测系统、线性放大器和单道脉冲分析器，其特征在于：还包括单片机和计算机，所述单片机与所述单道脉冲分析器通信连接、与所述计算机之间采用RS232串口通信、同时对高压和计数率进行控制。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京滨松光子技术股份有限公司，未经北京滨松光子技术股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201020046805.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种测量激光等离子体的离子平动能仪
- 下一篇：一种单频点卫星导航信号模拟器
