[实用新型]闪烁探测器的坪特性测试系统有效
| 申请号: | 201020046805.7 | 申请日: | 2010-01-14 |
| 公开(公告)号: | CN201689178U | 公开(公告)日: | 2010-12-29 |
| 发明(设计)人: | 程现琪 | 申请(专利权)人: | 北京滨松光子技术股份有限公司 |
| 主分类号: | G01T1/20 | 分类号: | G01T1/20 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 100070 北京市丰*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 闪烁 探测器 特性 测试 系统 | ||
技术领域
本实用新型涉及闪烁探测器领域,具体涉及闪烁探测器的坪区测试系统。
背景技术
坪特性在闪烁探测器的应用性能指标中是重要的一项,现有技术中对该项的测试一般采用如图1所示的测试系统,包括闪烁探测系统、线性放大器、单道、高压电源、线性扫描器、线性率表和X-Y函数记录仪,其中闪烁探测系统包括闪烁体、光电倍增管和前放。高压电源供电,闪烁探测系统工作,闪烁探测系统出来的脉冲信号,经过线性放大器倒相后,超过单道脉冲分析器甄别电压的脉冲信号进入单道脉冲分析器计数,一个脉冲信号转换成一个TTL电平,之后,线性率表将脉冲数转换成电压幅度数,统计的计数率数据作为Y轴数据由X-Y函数记录仪进行记录;线性扫描器控制高压电源,按比例得出的工作电压数据作为X轴数据由X-Y函数记录仪进行记录;X-Y函数记录仪根据X轴、Y轴数据,在纸质介质上绘出坪特性曲线。但是,现有技术中,线性率表是将脉冲计数转换成模拟量,再根据模拟量做成曲线,这种曲线只是相对的表示坪曲线,不能直接反映出计数率的大小,而且需要人工记录,使用起来很不方便,另外,X-Y函数记录仪的存储介质只能使用特质纸张,不仅存贮不方便,而且成本较高,不便于推广。
实用新型内容
为了解决现有技术中使用不方便、成本较高、不利于推广的技术问题,本实用新型提供了一种自动坪特性测试系统。
一种闪烁探测器的坪特性测试系统,包括依次连接的高压电源、闪烁探测系统、线性放大器和单道脉冲分析器,还包括单片机和计算机,所述单片机与所述单道脉冲分析器通信连接、与所述计算机之间采用RS232串口通信、同时对高压和计数率进行控制。
为了使本实用新型具有较好的效果,该测试系统所述单片机内置定时器和计数器。另外,该测试系统还包括打印机,所述打印机与所述计算机之间通信连接。
本实用新型可以直接将数据存入计算机中,便于存储管理,需要的时候可以通过打印机打印出来,不需要特制的纸张,方便使用、降低成本,利于推广。
附图说明
图1是现有技术中坪特性测试系统框图。
图2是本实用新型坪特性测试系统框图。
图3是本实用新型单片机实现的逻辑关系示意图。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型具体实施方式作进一步详细说明。
如图2、图3所示,坪特性测试系统包括高压电源、闪烁探测系统、线性放大器、单道脉冲分析器、单片机、计算机,其中闪烁探测系统包括闪烁体、光电倍增管和前放;单道脉冲分析器出来的信号进入单片机中,单片机作为核心处理芯片取代了现有技术中线性扫描器、线性率表和X-Y函数记录仪的作用,通过DA/AD转换对高压电源的高压进行控制,通过内置的定时器与计数器对计数率进行控制,同时,单片机和计算机之间采用RS232串口通信,将坪特性曲线的相关数据从单片机传送到计算机中以excel的格式进行保存,当需要的时候,可以进一步通过打印机打印出来保存。
本实用新型实现上述测试系统使用的单片机是ATmega8535L,但是并不局限于此,任何与Atmega8535L具有相同功能的单片机,都可以依据上述思路实现本测试系统。
与现有技术的坪特性测试系统相比,本自动测坪系统还具有下述优点:可实现直接计数,将每个间隔高压下的输出计数依次自动测出、自动作出计数率与高压关系的坪曲线,直接反映计数率,更贴近客户使用条件;由于采用单片机控制,可以自动给出起坪电压、坪长和坪中电压;相对传统的手动测试,具有可编程自动化的优势。
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