[发明专利]用于8-位存储器设备的差错校正机制有效
| 申请号： | 201010620099.7 | 申请日： | 2010-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN102117662A | 公开（公告）日： | 2011-07-06 |
| 发明（设计）人： | D·W·布鲁兹辛斯基 | 申请（专利权）人： | 英特尔公司 |
| 主分类号： | G11C29/42 | 分类号： | G11C29/42 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 毛力 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 与常规的机制相比，本文所描述的8-位宽数据差错检测和校正机制需要更少的存储器芯片，因此提供了减小的系统复杂度和减小的系统功耗。这种技术依赖于测试固定的一组可能的解决方案以便校正故障。这种差错代码提供了非常高的差错检测速率，但需要一组差错尝试来校正检测到的故障。考虑到其发生频率很低，针对不频繁差错的额外校正等待时间可能是可接受的。对于重复的校正，可以维持一日志，以简化差错校正。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 存储器 设备 差错 校正 机制 | ||
【主权项】：
一种方法，包括：使用多项式方程产生与64‑位数据值相对应的8‑位校验和值；使所述8‑位校验和值与所述64‑位数据值串接起来以形成72‑位数据块；将所述72‑位数据块存储到存储器中；从所述存储器中读取所述72‑位数据块；针对从所述存储器中读取的所述72‑位数据块，使用所述多项式方程产生新的校验和值；如果新的校验和值指示了差错，则对来自一个DRAM的1‑位持久故障或8‑位永久故障启用差错校正操作。
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