[发明专利]装配检验装置和使用装配检验装置的装配处理装置无效
| 申请号: | 201010610781.8 | 申请日: | 2010-12-17 |
| 公开(公告)号: | CN102207370A | 公开(公告)日: | 2011-10-05 |
| 发明(设计)人: | 小池尚己;若林公宏 | 申请(专利权)人: | 富士施乐株式会社 |
| 主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00 |
| 代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 顾红霞;何胜勇 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | 本发明提供了装配检验装置和装配处理装置,该装配检验装置包括:标记部,其具有四个或更多个单元图案标记,单元图案标记按预定位置关系设置在待被放置到装配接收元件中的装配元件的部分中,并且单元图案标记以浓度图案从所述图案标记的中心位置到所述图案标记的外周逐渐变化的方式形成;成像工具,其被设置为与被放置到装配接收元件中的装配元件相对并且捕获标记部的图像;布置信息识别模块,其至少利用与已被成像工具捕获图像的标记部有关的成像信息来识别与被放置到装配接收元件中的装配元件的位置和姿态有关的布置信息;以及装配检验模块,其用于检验是否达到优良装配状态。 | ||
| 搜索关键词: | 装配 检验 装置 使用 处理 | ||
【主权项】:
一种装配检验装置,包括:标记部,其具有四个或更多个单元图案标记,所述单元图案标记按预定位置关系设置在待被放置到装配接收元件中的装配元件的部分中,并且所述单元图案标记以浓度图案从所述单元图案标记的中心位置到所述单元图案标记的外周逐渐变化的方式形成;成像工具,其被设置为与被放置到所述装配接收元件中的所述装配元件相对并且捕获所述标记部的图像;布置信息识别模块,其至少利用与已被所述成像工具捕获图像的所述标记部有关的成像信息来识别与被放置到所述装配接收元件中的所述装配元件的位置和姿态有关的布置信息;以及装配检验模块,其根据由所述布置信息识别模块识别的布置信息来检验是否达到优良装配状态。
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