[发明专利]测试模式控制器及其具有自我测试的电子装置无效
| 申请号： | 201010610001.X | 申请日： | 2010-12-17 |
| 公开（公告）号： | CN102541043A | 公开（公告）日： | 2012-07-04 |
| 发明（设计）人： | 陈国强;陈宴毅 | 申请（专利权）人： | 富晶电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G05B23/02 | 分类号： | G05B23/02 |
| 代理公司： | 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 | 代理人： | 王月玲;武玉琴 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 一种测试模式控制器及其具有自我测试的电子装置，所述测试模式控制器，包括致能信号产生器、控制信号产生器以及锁存器；致能信号产生器接收电源信号与第二控制信号，并产生第一致能信号与第二致能信号分别给锁存器与控制信号产生器；控制信号产生器接收电源指示电压与参考电压，并于第一致能信号致能时，产生第一控制信号传送给锁存器；锁存器于第二致能信号致能时，接收第一控制信号，并且依据第一控制信号产生第二控制信号；第二控制信号用以控制芯片操作于测试模式或一般模式。据此，测试模式控制器在不需要使用一个测试接脚，即可缩短测试时间，且可节省芯片面积与封装成本。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 模式 控制器 及其 具有 自我 电子 装置 | ||
【主权项】：
一种测试模式控制器，其特征在于，该测试模式控制器包括：致能信号产生器，接收电源信号与第二控制信号，并产生第一致能信号与第二致能信号；控制信号产生器，接收电源指示电压与参考电压，于该第一致能信号致能时，依据该电源指示电压与该参考电压产生第一控制信号；以及锁存器，受控于该第二致能信号，并于该第二致能信号致能时，依据该第一控制信号输出该第二控制信号，其中该第二控制信号用以控制芯片操作于测试模式或一般模式。
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