[发明专利]一种测试芯片的方法及装置无效
| 申请号： | 201010597539.1 | 申请日： | 2010-12-20 |
| 公开（公告）号： | CN102540050A | 公开（公告）日： | 2012-07-04 |
| 发明（设计）人： | 操冬华;葛保建;谢树;胡胜发 | 申请（专利权）人： | 安凯（广州）微电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/3177 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 逯长明;王宝筠 |
| 地址： | 510663 广东省广州市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种测试芯片的方法及装置，所述包括：在每个被测IC芯片内设置用于测试芯片正常逻辑功能的内建自测BIST电路；所述方法还包括：被测IC芯片通过数据转换逻辑电路接收来自主控IC芯片的自测试指令，进入自测模式；被测IC芯片中的内建自测电路通过数据转换逻辑电路接收来自主控IC芯片的测试数据指令，对所述被测IC芯片中的逻辑功能进行测试，返回测试结果；其中，所述数据转换逻辑电路将来自主控IC芯片的指令转换为串行信号后发送给被控IC芯片，将来自被控IC芯片的信号转换为并行信号后发送给主控IC芯片。应用本发明，降低了对出货前芯片的测试成本，提高测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 芯片 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种测试芯片的方法，其特征在于，包括：在每个被测集成电路IC芯片内设置用于测试芯片正常逻辑功能的内建自测BIST电路；所述方法还包括：被测IC芯片通过数据转换逻辑电路接收来自主控IC芯片的自测试控制信号，进入自测模式；被测IC芯片中的内建自测电路通过数据转换逻辑电路接收来自主控IC芯片的测试数据指令及测试数据，对所述被测IC芯片中的各模块逻辑功能进行测试，返回测试结果；其中，所述数据转换逻辑电路，将来自主控IC芯片的测试数据指令及测试数据转换为串行信号后发送给被控IC芯片，将来自被控IC芯片的信号转换为并行信号后发送给主控IC芯片。
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