[发明专利]光学式位置检测装置、机械手装置以及显示装置有效

专利信息
申请号: 201010578387.0 申请日: 2010-12-01
公开(公告)号: CN102095438A 公开(公告)日: 2011-06-15
发明(设计)人: 中西大介 申请(专利权)人: 精工爱普生株式会社
主分类号: G01D5/34 分类号: G01D5/34;B25J19/00;G06F3/042
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 李伟;王轶
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种光学式位置检测装置、机械手装置以及具有位置检测功能的显示装置,将从光源部出射的检查用光的一部分作为不管有无对象物体都强度恒定的无信息光来进行监测并利用于光源部的驱动条件设定等中,而且上述无信息光不会妨碍对象物体的位置检测。在光学式位置检测装置中,光源部出射检查用光,在检测区域形成光强度分布,并通过第一光检测器来检测被对象物体反射的位置检测用反射光。另外,设置有第二光检测器,被对象物体反射的位置检测用反射光不会入射该第二光检测器,而未经由检测区域的无信息光会入射上述第二光检测器。第一光检测器可以具有位置检测用反射光入射但无信息光不会入射的结构。
搜索关键词: 光学 位置 检测 装置 机械手 以及 显示装置
【主权项】:
一种位置检测装置,用于检测对象物体的位置,其特征在于,具有:光源部,其形成检测用光的光强度分布;第一光检测部,其接收在形成有上述光强度分布的检测区域被上述对象物体反射的上述检测用光的反射光;透光部件,其具有朝向上述检测区域的第一面以及朝向上述光源部的第二面,并且,设置在上述检测区域和上述光源部之间,且是设置在上述检测区域和上述第一检测部之间;第二光检测部,其接收在从上述光源部出射的上述检测用光中被上述透光部件的上述第二面反射的光;位置检测部,其基于上述第一光检测部的检测结果,检测上述检测区域内的上述对象物体;遮光部材,其设置在上述第二光检测器和上述检测区域之间,用于对上述反射光进行遮光。
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