[发明专利]一种对深盲孔进行电镀的方法无效

专利信息
申请号: 201010574410.9 申请日: 2010-12-06
公开(公告)号: CN102485965A 公开(公告)日: 2012-06-06
发明(设计)人: 刘焕明;周静涛;杨成樾;李博;刘新宇 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: C25D7/12 分类号: C25D7/12;C25D5/08
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 周国城
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种对深盲孔进行电镀的方法,该方法适用于电镀金、镍、铜、银等金属及其合金的深盲孔的电镀,包括清洗半导体芯片;在半导体芯片上生长一层刻蚀阻挡层;在阻挡层上涂上光刻胶,曝光、显影,光刻出腐蚀区;通过干法、湿法等方法刻蚀出没有被光刻胶覆盖的阻挡层;采用乙醇、丙酮去掉光刻胶;采用ICP刻蚀出需要的深度,去掉多余的阻挡层;蒸发/溅射启镀层;根据盲孔的深度与宽度调节喷镀所需要气体与溶液所需要的强度。本发明解决了深盲孔电镀的问题,满足了集成电镀的背金的电镀,特别是在大功率的集成电路的散热的需要。
搜索关键词: 一种 深盲孔 进行 电镀 方法
【主权项】:
一种对深盲孔进行电镀的方法,其特征在于,该方法包括:步骤1:清洗半导体衬底;步骤2:在半导体衬底上生长一层介质,作为刻蚀阻挡层;步骤3:在刻蚀阻挡层上涂上一层光刻胶,然后曝光、显影,光刻出需要刻蚀的区域;步骤4:刻蚀出没有被光刻胶覆盖的介质层;步骤5:采用丙酮和乙醇去掉光刻胶;步骤6:用ICP刻蚀出所需要厚度的盲孔;步骤7:腐蚀掉剩下的阻挡层;步骤8:在半导体衬底上蒸发或溅射电镀种子层,以覆盖整个半导体衬底为准;步骤9:根据盲孔的深度调节喷镀所需要气体与溶液所需要的强度,根据半导体衬底的面积与厚度计算电镀的电流与时间,在电镀种子层上进行电镀,电镀出一层金属层。
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