[发明专利]散热测试装置测试方法无效
申请号: | 201010568159.5 | 申请日: | 2010-11-23 |
公开(公告)号: | CN102478933A | 公开(公告)日: | 2012-05-30 |
发明(设计)人: | 林智坚;陈建安 | 申请(专利权)人: | 英业达股份有限公司 |
主分类号: | G06F1/20 | 分类号: | G06F1/20;G06F11/22 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 刘芳 |
地址: | 中国台湾台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明提供一种散热测试装置测试方法,散热测试装置适于配置一机箱且包括多个发热元件以及至少一散热风扇。上述测试方法包括下列步骤。首先,侦测发热元件的温度,以取得平衡温度。判断平衡温度是否大于预设温度。当平衡温度大于预设温度时,产生控制信号至散热风扇,以调整散热风扇的转速,并回到侦测发热元件的温度的步骤。当平衡温度小于或等于预设温度时,判断发热元件的负载是否为预设值。当发热元件的负载为预设值时,判断机箱的进口的温度是否为预设环境温度。当机箱的进口的温度为预设环境温度时,则输出检测结果。 | ||
搜索关键词: | 散热 测试 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种散热测试装置测试方法,该散热测试装置适于配置一机箱且包括多个发热元件以及至少一散热风扇,其特征在于,该测试方法包括:侦测该些发热元件的温度,以取得一平衡温度;判断该平衡温度是否大于一预设温度;当该平衡温度大于该预设温度时,产生一控制信号至该散热风扇,以增加该散热风扇的转速,并回到侦测该些发热元件的温度的步骤;以及当该平衡温度小于或等于该预设温度时,侦测并判断该些发热元件的负载是否为一预设值;当该发热元件的负载为该预设值时,侦测并判断该机箱的进口的温度是否为一预设环境温度;以及当该机箱的进口的温度为该预设环境温度时,则输出一检测结果。
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