[发明专利]平板状被检查体的测试装置有效
| 申请号： | 201010535039.5 | 申请日： | 2010-11-04 |
| 公开（公告）号： | CN102054413A | 公开（公告）日： | 2011-05-11 |
| 发明（设计）人： | 植木勲;东保宏宣 | 申请（专利权）人： | 日本麦可罗尼克斯股份有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00;G01R1/04;G01R1/02 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 刘新宇;张会华 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种平板状被检查体的测试装置，其防止被检查体掉落到触头上。测试装置包括：面板承接件，其具有承接平板状被检查体的矩形的面板承接面；探针单元，其具有探针块，该探针块具有按压于上述被检查体的电极的多个触头；多个保护构件，其位于上述面板承接面的外侧。多个保护构件在上述矩形的至少一条边的方向上隔开间隔，而且各保护构件的上端位于上述触头的最高位置的上方。 | ||
| 搜索关键词： | 平板 检查 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种平板状被检查体的测试装置，其中，上述测试装置包括：面板承接件，其具有承接平板状被检查体的矩形的面板承接面；探针单元，其具有探针块，该探针块具有按压于上述被检查体的电极的多个触头；以及保护装置，其针对被进行对上述面板承接面的授受的被检查体进行上述触头的保护，该保护装置具有多个保护构件，该多个保护构件位于上述面板承接面的外侧；上述多个保护构件在上述矩形的至少一条边的方向上隔开间隔，各上述保护构件的上端位于比上述触头的最高位置靠向上方的位置。
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