[发明专利]结晶辊状态监控方法及监控装置有效
| 申请号: | 201010534847.X | 申请日: | 2010-11-08 |
| 公开(公告)号: | CN102463328A | 公开(公告)日: | 2012-05-23 |
| 发明(设计)人: | 朱丽业;牛晋生;林富贵 | 申请(专利权)人: | 上海宝信软件股份有限公司 |
| 主分类号: | B22D11/16 | 分类号: | B22D11/16;B22D11/06 |
| 代理公司: | 上海集信知识产权代理有限公司 31254 | 代理人: | 周成 |
| 地址: | 201203 上海市浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | 一种结晶辊状态监控方法,在两根结晶辊的外侧分别安装辊面温度扫描仪扫描结晶辊的辊面温度;建立辊面温度扫描仪与薄带连铸控制系统之间的通讯;薄带连铸控制系统向辊面温度扫描仪发出开浇(或终浇)信号,辊面温度扫描仪开始(或结束)周期性地扫描结晶辊的辊面温度,每一次扫描获得多个点的温度值;辊面温度扫描仪将所获得的多个点的温度值与设定的温度阈值进行比较,当连续n个点的温度值均大于温度阈值时,判断该n个点所在位置为可疑缺陷点,辊面温度扫描仪发出报警信号;辊面温度扫描仪根据结晶辊的转速计算结晶辊的旋转周期,当可疑缺陷点在连续的m个周期中重复出现时,判断该可疑缺陷点为缺陷点,辊面温度扫描仪发出停浇信号。 | ||
| 搜索关键词: | 结晶 状态 监控 方法 装置 | ||
【主权项】:
一种结晶辊状态监控方法,其特征在于,包括:在两根结晶辊的外侧分别安装辊面温度扫描仪,辊面温度扫描仪周期性地扫描结晶辊的辊面温度,每一次扫描获得多个点的温度值;辊面温度扫描仪将所获得的多个点的温度值与设定的温度阈值进行比较,当连续n个点的温度值均大于温度阈值时,判断该n个点所在位置为可疑缺陷点,辊面温度扫描仪向薄带连铸控制系统发出报警信号;辊面温度扫描仪根据结晶辊的转速计算结晶辊的旋转周期,当所述可疑缺陷点在连续的m个周期中重复出现时,判断该可疑缺陷点为缺陷点,辊面温度扫描仪向薄带连铸控制系统发出停浇信号。
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