[发明专利]结晶辊状态监控方法及监控装置有效

专利信息
申请号: 201010534847.X 申请日: 2010-11-08
公开(公告)号: CN102463328A 公开(公告)日: 2012-05-23
发明(设计)人: 朱丽业;牛晋生;林富贵 申请(专利权)人: 上海宝信软件股份有限公司
主分类号: B22D11/16 分类号: B22D11/16;B22D11/06
代理公司: 上海集信知识产权代理有限公司 31254 代理人: 周成
地址: 201203 上海市浦*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 结晶 状态 监控 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种结晶辊状态监控方法,其特征在于,包括:

在两根结晶辊的外侧分别安装辊面温度扫描仪,辊面温度扫描仪周期性地扫描结晶辊的辊面温度,每一次扫描获得多个点的温度值;

辊面温度扫描仪将所获得的多个点的温度值与设定的温度阈值进行比较,当连续n个点的温度值均大于温度阈值时,判断该n个点所在位置为可疑缺陷点,辊面温度扫描仪向薄带连铸控制系统发出报警信号;

辊面温度扫描仪根据结晶辊的转速计算结晶辊的旋转周期,当所述可疑缺陷点在连续的m个周期中重复出现时,判断该可疑缺陷点为缺陷点,辊面温度扫描仪向薄带连铸控制系统发出停浇信号。

2.如权利要求1所述的结晶辊状态监控方法,其特征在于,

辊面温度扫描仪检测结晶辊的整个辊面长度方向上的温度,扫描线的长度为辊面长度的1.1~1.3倍;扫描线与结晶辊的平行度为0.1,辊面温度扫描仪与扫描线组成的平面与结晶辊辊面切线的垂直度为0.1~0.15,辊面温度扫描仪同时获得结晶辊辊面上多个点的温度。

3.如权利要求1所述的结晶辊状态监控方法,其特征在于,

辊面温度扫描仪扫描结晶辊的辊面温度的周期小于结晶辊的旋转周期的10%。

4.一种结晶辊状态监控装置,其特征在于,包括:

两个辊面温度扫描仪,分别安装在两根结晶辊的外侧,辊面温度扫描仪扫描结晶辊的辊面温度;

通讯模块,连接在辊面温度扫描仪与薄带连铸控制系统之间,建立辊面温度扫描仪与薄带连铸控制系统之间的通讯;

结晶辊状态监控模块,判断结晶辊状态;

其中辊面温度扫描仪在收到开浇信号后开始扫描,并将此时结晶辊的位置作为原点O,并在每次扫描时都计算出当前的扫描位置相对于O点的距离,当此距离大于等于结晶辊周长时,取其余数;

对读入的各点温度Ti与温度阈值Ttv进行比较,当连续n个点均满足实测温度Ti大于阈值Ttv时,判断此处的结晶辊辊面为可疑缺陷点,此时根据结晶辊的转速判断结晶辊的旋转周期,当可疑缺陷点在下m个周期均重复出现,则判断该可以缺陷点为由结晶辊本身的故障造成的缺陷点。

5.如权利要求4所述的结晶辊状态监控装置,其特征在于,

辊面温度扫描仪检测结晶辊的整个辊面长度方向上的温度,扫描线的长度为辊面长度的1.1~1.3倍;扫描线与结晶辊的平行度为0.1,辊面温度扫描仪与扫描线组成的平面与结晶辊辊面切线的垂直度为0.1~0.15,辊面温度扫描仪同时获得结晶辊辊面上多个点的温度。

6.如权利要求4所述的结晶辊状态监控装置,其特征在于,

辊面温度扫描仪扫描结晶辊的辊面温度的周期小于结晶辊的旋转周期的10%。

7.如权利要求4所述的结晶辊状态监控装置,其特征在于

所述温度阈值为结晶辊表面最高耐受温度的70~85%。

8.如权利要求4所述的结晶辊状态监控系统,其特征在于,

判断可疑缺陷点为缺陷点,m为3~10。

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