[发明专利]一种访问控制客体粒度测试框架及方法有效

专利信息
申请号: 201010533179.9 申请日: 2010-11-05
公开(公告)号: CN102467416A 公开(公告)日: 2012-05-23
发明(设计)人: 连一峰;张海霞;鲍旭华;李金戈;陈平 申请(专利权)人: 中科正阳信息安全技术有限公司
主分类号: G06F11/00 分类号: G06F11/00;G06F21/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100080 北京市海淀区*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明的目的是提供一种客体粒度的测试的框架和方法,测试访问控制的客体粒度具体实现为什么级别,从而为检测安全功能是否符合等级保护的要求提供直观的数据参考。本发明的技术内容是一种客体粒度的框架和测试方法,分为访问控制客体粒度测试指标设定、访问控制客体信息获取和访问控制客体粒度测试三部分,通过针对访问控制课题粒度信息的获取和分析,测试访问控制的客体粒度是否达到文件级、数据库级、数据库表级、字段级等,从而通过该项功能测试测试访问控制客体粒度是否与等级保护的相关标准或要求相符。针对访问控制客体粒度的测试框架和测试方法,测试方法以流程型用例和算法型用例的形式组织,而实际测试用例的组织和调度则采用可插拔的方式进行。
搜索关键词: 一种 访问 控制 客体 粒度 测试 框架 方法
【主权项】:
一种访问控制客体粒度测试框架及方法,具体包括如下:1)一种访问控制客体粒度测试框架,由用户交互界面、访问控制客体粒度测试逻辑和访问控制客体粒度数据库组成;2)使用流程型用例和算法型用例实现访问控制客体粒度测试逻辑,包括两种用例定位、两种用例之间的关系和两种用例互为补充互为支撑的逻辑;3)访问控制客体粒度测试指标体系,包括操作系统和数据库访问控制粒度指标集及指标集构造方法;4)在框架、用例、指标体系以及部分驱动插件支撑下进行客体粒度测试的方法,包括访问控制实现机制、访问控制指标提取、访问控制信息提取和访问控制粒度分析等过程方法。
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