[发明专利]防伪元件隐藏图像明暗区域对比度的检测方法与装置有效
| 申请号： | 201010514531.4 | 申请日： | 2010-10-21 |
| 公开（公告）号： | CN102183357A | 公开（公告）日： | 2011-09-14 |
| 发明（设计）人： | 王斌;陈庚;柯光明;周基炜;刘卫东 | 申请（专利权）人： | 中国人民银行印制科学技术研究所;中国印钞造币总公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;G01J3/42;G02B5/30 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 孙宝海 |
| 地址： | 100070 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种防伪元件隐藏图像明暗区域对比度的检测方法与装置，其中，检测方法包括：入射光通过偏振片入射防伪元件上的测量区域；调整偏振片，使防伪元件的隐藏图像分别形成正片与负片，并测量正片与负片时测量区域的反射光谱，所述反射光谱表示入射光波段内各波长的反射率；根据正片与负片时的反射光谱，分别针对反射光谱中的各波长，获取正片与负片时反射率的差值或比值，以便由所述差值或比值确定所述防伪元件隐藏图像明暗区域的对比度。本发明实施例实现了防伪元件隐藏的正负片图像明暗区域的对比度的定量检测，从而实现了对防伪元件质量的精确、准确控制。 | ||
| 搜索关键词： | 防伪 元件 隐藏 图像 明暗 区域 对比度 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种防伪元件隐藏图像明暗区域对比度的检测方法，其特征在于，包括：入射光通过偏振片入射防伪元件上的测量区域；调整偏振片，使防伪元件的隐藏图像分别形成正片与负片，并测量正片与负片时测量区域的反射光谱，所述反射光谱表示入射光波段内各波长的反射率；根据正片与负片时的反射光谱，分别针对反射光谱中的各波长，获取正片与负片时反射率的差值或比值，以便由所述差值或比值确定所述防伪元件隐藏图像明暗区域的对比度。
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