[发明专利]防伪元件隐藏图像明暗区域对比度的检测方法与装置

权利要求书

1.一种防伪元件隐藏图像明暗区域对比度的检测方法，其特征在于，包括：

入射光通过偏振片入射防伪元件上的测量区域；

调整偏振片，使防伪元件的隐藏图像分别形成正片与负片，并测量正片与负片时测量区域的反射光谱，所述反射光谱表示入射光波段内各波长的反射率；

根据正片与负片时的反射光谱，分别针对反射光谱中的各波长，获取正片与负片时反射率的差值或比值，以便由所述差值或比值确定所述防伪元件隐藏图像明暗区域的对比度。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：通过斩光器将光源发射的光束分为波段相同的参考光与所述入射光；通过参考光检测器接收所述参考光，检测所述入射光波段内各波长的参考光强度，并将该参考光强度转换为第一电信号；

所述入射光通过偏振片入射防伪元件上的测量区域之后，还包括：通过物光检测器接收所述入射光经所述测量区域反射后的反射光，检测所述入射光波段内各波长的反射光强度，并将所述反射光强度转换为第二电信号；

通过计算器，分别针对所述入射光波段内的各波长，计算第二电信号与第一电信号的比值，得到反射光谱。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述测量正片与负片时测量区域的反射光谱包括：

通过所述计算器，在正片与负片时，分别针对所述入射光波段内的各波长，计算第二电信号与第一电信号的比值，得到正片与负片时测量区域的反射光谱。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，得到反射光谱之后，还包括：

通过显示器显示所述反射光谱。

5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述偏振片为线偏振片；

所述调整偏振片包括：改变所述线偏振片的偏振方向与所述测量区域内液晶分子光轴方向之间的角度，使所述线偏振片的偏振方向与所述测量区域内液晶分子光轴方向之间的角度分别为+45度与-45度。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述入射光沿垂直于所述线偏振片的偏振面的方向，通过所述线偏振片入射防伪元件上的测量区域。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述偏振片为圆偏振片；

所述调整偏振片包括：分别采用左旋圆偏振片与右旋圆偏振片。

8.根据权利要求1至7任意一项所述的方法，其特征在于，所述入射光波段包括400nm～700nm。

9.根据权利要求1至7任意一项所述的方法，其特征在于，所述入射光的光斑小于或等于所述测量区域。

10.根据权利要求1至7任意一项所述的方法，其特征在于，所述入射光通过偏振片入射防伪元件上的测量区域包括：

所述入射光通过偏振片，垂直入射防伪元件上的测量区域。

11.根据权利要求1至7任意一项所述的方法，其特征在于，由所述差值确定所述防伪元件隐藏图像明暗区域的对比度包括：

获取所述入射光波段内各波长反射率的差值中的最大差值，由该最大差值确定所述防伪元件隐藏图像明暗区域的对比度；或者，获取所述入射光波段内各波长反射率的差值的平均值，由该平均值确定所述防伪元件隐藏图像明暗区域的对比度；或者，获取所述入射光波段内各波长反射率的差值中的最小差值，由该最小差值确定所述防伪元件隐藏图像明暗区域的对比度；或者，获取正片和负片在入射光波段内各相应波长反射率的比值，由该最大比值确定防伪元件隐藏图像明暗区域的对比度；

由所述比值确定所述防伪元件隐藏图像明暗区域的对比度包括：

获取所述入射光波段内各波长反射率的比值中的最大比值，由该最大比值确定所述防伪元件隐藏图像明暗区域的对比度；或者获取所述入射光波段内各波长反射率的比值的平均值，由该平均值确定所述防伪元件隐藏图像明暗区域的对比度；或者获取所述入射光波段内各波长反射率的比值中的最小比值，由该最小比值确定所述防伪元件隐藏图像明暗区域的对比度；或者获取正片和负片在入射光波段内各相应波长反射率的比值，由该最大比值确定防伪元件隐藏图像明暗区域的对比度。