[发明专利]高镁含量六方相MgZnO薄膜及其制备方法无效

专利信息
申请号: 201010512169.7 申请日: 2010-10-11
公开(公告)号: CN102031487A 公开(公告)日: 2011-04-27
发明(设计)人: 吕有明;朱德亮;曹培江;马晓翠;柳文军;贾芳;陈吉星 申请(专利权)人: 深圳大学
主分类号: C23C14/28 分类号: C23C14/28;C23C14/08
代理公司: 深圳市君胜知识产权代理事务所 44268 代理人: 刘文求;刘新年
地址: 518054 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种六方相MgZnO薄膜及其制备方法,在缺氧气氛下,采用低Mg掺杂浓度的MgZnO陶瓷靶进行脉冲激光沉积,在衬底上沉积得到高Mg掺杂浓度的六方相MgZnO薄膜。其在PLD技术中利用缺氧导致的非平衡生长过程,可以有效提高Mg的固溶度,实现Mg含量的调节,为制备高Mg掺杂ZnO基多元合金薄膜提供了便捷有效的手段。
搜索关键词: 含量 六方相 mgzno 薄膜 及其 制备 方法
【主权项】:
一种六方相MgZnO薄膜的制备方法,其特征在于,在缺氧气氛下,采用低Mg掺杂浓度的MgZnO陶瓷靶进行脉冲激光沉积,在衬底上沉积得到高Mg掺杂浓度的六方相MgZnO薄膜。
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