[发明专利]探针卡结构无效
申请号: | 201010511476.3 | 申请日: | 2010-10-19 |
公开(公告)号: | CN102455373A | 公开(公告)日: | 2012-05-16 |
发明(设计)人: | 郑雅云;郑靖桦;刘广三;林南君 | 申请(专利权)人: | 群成科技股份有限公司 |
主分类号: | G01R1/067 | 分类号: | G01R1/067;G01R1/073;G01R31/26 |
代理公司: | 北京汇泽知识产权代理有限公司 11228 | 代理人: | 张瑾 |
地址: | 中国台湾新竹县湖*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明涉及一种利用晶圆级技术制成的探针卡结构,所述探针卡结构包括:金属薄膜层;填充材料层,形成于金属薄膜层之上,具有多个开口;第一导电层,形成于多个开口之中;第一介电层,形成于填充材料层之上;第二导电层,耦合于第一导电层;第二介电层,形成于第一导电层及金属薄膜层之下;重布层,形成于第二介电层之下,耦合于第一导电层;保护层,形成于重布层之下;以及金属垫层,形成于保护层之上,耦合于重布层。本发明提供的探针卡结构,可有效增加探针卡的效率、可靠度及寿命,并可大幅降低成本;可以定位与整合到印刷电路板上,以大幅减少传统探针卡的成本;还可降低检测时的接触作用力对探针造成的磨损程度,有助于延长探针卡的使用寿命。 | ||
搜索关键词: | 探针 结构 | ||
【主权项】:
一种探针卡结构,其特征在于,所述探针卡结构包含:金属薄膜层,具有多个第一开口;填充材料层,形成于金属薄膜层之上,具有多个第二开口;第一导电层,形成于多个第二开口之中;第一介电层,形成于填充材料层之上,具有多个第三开口;第二导电层,形成于多个第三开口中,耦合于第一导电层;以及第二介电层,形成于第一导电层及金属薄膜层之下,具有多个第四开口。
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