[发明专利]测距方法、测距系统与其处理方法有效
| 申请号： | 201010505407.1 | 申请日： | 2010-10-13 |
| 公开（公告）号： | CN102445179A | 公开（公告）日： | 2012-05-09 |
| 发明（设计）人： | 杨恕先;陈信嘉;古人豪;黄森煌 | 申请（专利权）人： | 原相科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01C3/00 | 分类号： | G01C3/00 |
| 代理公司： | 北京汇智英财专利代理事务所 11301 | 代理人： | 陈践实 |
| 地址： | 中国台湾新竹科学工业*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 一种测距方法，包括投射具有一斑点图样的面光源到一或多个参考平面和一待测物上，以使参考表面和待测物朝向该面光源的表面上呈现斑点图样的影像，而此斑点图样具有多个斑点。接着，撷取每一参考平面上的斑点图样的影像，以获得多个参考影像信息，并且撷取待测物上的斑点图样的影像，以获得一待测影物像信息。借此，本发明会将这些参考影像信息与待测物影像信息进行比对，而获得多个比对结果。此时，将这些比对结果进行一内插法运算，以计算出待测物的位置。 | ||
| 搜索关键词： | 测距 方法 系统 与其 处理 | ||
【主权项】：
一种测距系统，其特征在于，其包括：一个光源模组，向在多个位置点上的参考平面和一个待测物投射具有一斑点图样的面光源，使得每一该些位置点上的参考平面和该待测物朝向该光源模组的表面呈现该斑点图样的影像，其中该斑点图样具有多个斑点；一个影像撷取装置，撷取各该位置点的参考平面上所呈现的斑点图样的影像，而产生多个参考影像信息，并撷取该待测物上所呈现的斑点图样的影像，而产生一个待测影像信息；以及一个处理模组，耦接该影像撷取装置，以将该些参考影像信息和该待测影像信息进行比对，而获得多个比对结果，且该处理模组更将该些比对结果进行内插法的运算，以计算出该待测物的位置。
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