[发明专利]基于光子晶体自准直效应的光模数转换器量化方法有效
| 申请号： | 201010504162.0 | 申请日： | 2010-09-30 |
| 公开（公告）号： | CN102445809A | 公开（公告）日： | 2012-05-09 |
| 发明（设计）人： | 周静涛;刘新宇;申华军;张慧慧;杨成樾;刘焕明 | 申请（专利权）人： | 中国科学院微电子研究所 |
| 主分类号： | G02F7/00 | 分类号： | G02F7/00;G02B6/122 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 周国城 |
| 地址： | 100029 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于光子晶体自准直效应的光模数转换器量化方法，该方法包括：在二维介质基板中填充一种填充介质，并在介质基板上引入正三角晶格的另一种填充介质，形成光子晶体自准直结构；依据该光子晶体自准直结构的透射谱确定透射率的低点和高点，判定为逻辑状态0或1，实现量化。利用本发明，有效地避免了光子晶体传统线缺陷产生的损耗，有利于实现器件的微型化、低损耗和集成化，并将推进光模数转换器在高速集成化信息技术中的实用化进程，对信息技术的发展具有深远的意义。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 光子 晶体 效应 光模数 转换器 量化 方法 | ||
【主权项】：
一种基于光子晶体自准直效应的光模数转换器量化方法，其特征在于，该方法包括：在二维介质基板中填充一种填充介质，并在介质基板上引入正三角晶格的另一种填充介质，形成光子晶体自准直结构；依据该光子晶体自准直结构的透射谱确定透射率的低点和高点，判定为逻辑状态0或1，实现量化。
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