[发明专利]基于光子晶体自准直效应的光模数转换器量化方法

权利要求书

1.一种基于光子晶体自准直效应的光模数转换器量化方法，其特征在于，该方法包括：

在二维介质基板中填充一种填充介质，并在介质基板上引入正三角晶格的另一种填充介质，形成光子晶体自准直结构；

依据该光子晶体自准直结构的透射谱确定透射率的低点和高点，判定为逻辑状态0或1，实现量化。

2.根据权利要求1所述的基于光子晶体自准直效应的光模数转换器量化方法，其特征在于，所述在二维介质基板中填充一种填充介质，并在介质基板上引入正三角晶格的另一种填充介质，形成光子晶体自准直结构，具体包括：

在二维介质基板中填充第一填充介质，并在介质基板上引入正三角晶格的第二填充介质，形成光子晶体自准直结构；

将光信号以自准直频率入射至该光子晶体自准直结构，该自准直频率由该光子晶体自准直结构的折射率、晶格周期和填充比确定；

分析该自准直光子晶体结构的透射谱，调整光子晶体结构参数，进一步选定透射谱比较稳定的光子晶体自准直结构。

3.根据权利要求2所述的基于光子晶体自准直效应的光模数转换器量化方法，其特征在于，所述二维介质基板与第一填充介质为任意介质，二者的折射率之差要大于0.5。

4.根据权利要求2所述的基于光子晶体自准直效应的光模数转换器量化方法，其特征在于，所述第一填充介质采用任意规则形状的结构单元。

5.根据权利要求2所述的基于光子晶体自准直效应的光模数转换器量化方法，其特征在于，所述第二填充介质为具有正三角晶格结构介质单元的填充介质。