[发明专利]数码产品故障检测方法

摘要

本发明涉及数码产品的检测技术，具体的说是涉及数码产品的故障检测方法。本发明公开了一种高效率的数码产品故障检测方法，解决传统技术中的数码产品故障不易检测，导致维修费用高、费时的问题。其技术方案的要点可概括为：通过对主芯片、内存、FLASH检测、三总线器件分别写入数据，再通过输出端读出数据，判断写入数据与读出数据是否相同，进而判断器件有无故障，对于IIC器件，则是通过发送控制命令，判断在响应位有无SDA低电平，进而判断IIC器件好坏。本发明对故障的检测可以精确到故障点，提高了维修效率，同时降低维修成本，适用于数码产品故障检测。

主权项

数码产品故障检测方法，其特征在于：包括以下步骤：a.主芯片检测：主芯片上电，系统初始化，通过控制锁相环寄存器，校准锁相环检测函数来判断主芯片时钟是否正常工作，并输出测试结果；向RAM寄存器中某个地址写入数据，再从该地址读出相应数据，判断写入数据与读出数据是否相同，并输出测试结果，以上两项测试如果均正常则主芯片无故障，否则主芯片有故障；b.内存检测：数据口测试，包括：b1.数据口第1位测试：在地址0X000000写入数据0X00，再从该地址读取数据，将读取的数据与0X00异或运算，运算结果赋值变量RDATA0；在地址0X000000写入数据0X01，再从该地址读取数据，将读取的数据与0X01异或运算，运算结果赋值变量RDATA1中；将RDATA0与RDATA1异或运算，判断运算结果是否为0，如果是，则数据口第1位无故障，否则第1位有故障；b2.数据口第2位测试，在地址0X000000写入数据0X00，再从该地址读取数据，将读取的数据与0X00异或运算，运算结果赋值变量RDATA0；在地址0X000000写入数据0X02，再从该地址读取数据，将读取的数据与0X02异或运算，运算结果赋值变量RDATA1中；将RDATA0与RDATA1异或运算，判断运算结果是否为0，如果是，则数据口第2位无故障，否则第2位有故障；b3.数据口第3位测试，在地址0X000000写入数据0X00，再从该地址读取数据，将读取的数据与0X00异或运算，运算结果赋值变量RDATA0；在地址0X000000写入数据0X03，再从该地址读取数据，将读取的数据与0X03异或运算，运算结果赋值变量RDATA1中；将RDATA0与RDATA1异或运算，判断运算结果是否为0，如果是，则数据口第3位无故障，否则第3位有故障；b4.数据口第4位测试，在地址0X000000写入数据0X00，再从该地址读取数据，将读取的数据与0X00异或运算，运算结果赋值变量RDATA0；在地址0X000000写入数据0X04，再从该地址读取数据，将读取的数据与0X04异或运算，运算结果赋值变量RDATA1中；将RDATA0与RDATA1异或运算，判断运算结果是否为0，如果是，则数据口第4位无故障，否则第4位有故障；b5.数据口第5位测试，在地址0X000000写入数据0X00，再从该地址读取数据，将读取的数据与0X00异或运算，运算结果赋值变量RDATA0；在地址0X000000写入数据0X05，再从该地址读取数据，将读取的数据与0X05异或运算，运算结果赋值变量RDATA1中；将RDATA0与RDATA1异或运算，判断运算结果是否为0，如果是，则数据口第5位无故障，否则第5位有故障；b6.数据口第6位测试，在地址0X000000写入数据0X00，再从该地址读取数据，将读取的数据与0X00异或运算，运算结果赋值变量RDATA0；在地址0X000000写入数据0X06，再从该地址读取数据，将读取的数据与0X06异或运算，运算结果赋值变量RDATA1中；将RDATA0与RDATA1异或运算，判断运算结果是否为0，如果是，则数据口第6位无故障，否则第6位有故障；b7.数据口第7位测试，在地址0X000000写入数据0X00，再从该地址读取数据，将读取的数据与0X00异或运算，运算结果赋值变量RDATA0；在地址0X000000写入数据0X07，再从该地址读取数据，将读取的数据与0X07异或运算，运算结果赋值变量RDATA1中；将RDATA0与RDATA1异或运算，判断运算结果是否为0，如果是，则数据口第7位无故障，否则第7位有故障；b8.数据口第8位测试，在地址0X000000写入数据0X00，再从该地址读取数据，将读取的数据与0X00异或运算，运算结果赋值变量RDATA0；在地址0X000000写入数据0X08，再从该地址读取数据，将读取的数据与0X08异或运算，运算结果赋值变量RDATA1中；将RDATA0与RDATA1异或运算，判断运算结果是否为0，如果是，则数据口第8位无故障，否则第8位有故障；地址线测试：对每一根地址线电平为1时的地址对应存储单元写入1的增量数据，从该地址读出数据，将读出数据与1的增量数据进行异或运算，判断运算结果是否为0，如果为0，则该地址线无故障，如果不为0，且该地址线对应的数据口无故障，则该地址线有故障；c.FLASH检测：数据口测试，包括：c1.在内存中分配用以存储FLASH中的SECTOR数据的临时空间；c2.将FLASH中的SECTOR数据读取至临时空间；c3.将临时空间中的前16个字节的数据分别修改为0X00、0X01、0X00、0X02、0X00、0X04、0X00、0X08、0X00、0X10、0X00、0X20、0X00、0X40、0X00、0X80，并擦除FLASH中的原始SECTOR数据；c4.将临时空间中经过修改后的SECTOR数据写入FLASH；c5.从FLASH中读取前16个字节的数据，分别赋值变量RDATA1、RDATA2、RDATA3、RDATA4、RDATA5、RDATA6、RDATA7、RDATA8、RDATA9、RDATA10、RDATA11、RDATA12、RDATA13、RDATA14、RDATA15、RDATA16。c6.将0X00与RDATA1异或运算，运算结果重新赋值RDATA1，将0X01与RDATA2异或运算，运算结果重新赋值RDATA2，将RDATA1与RDATA2异或运算，判断运算结果是否为0，如果为0，则数据口第1位无故障，否则第1位有故障；将0X00与RDATA3异或运算，运算结果重新赋值RDATA3，将0X02与RDATA4异或运算，运算结果重新赋值RDATA4，将RDATA3与RDATA4异或运算，判断运算结果是否为0，如果为0，则数据口第2位无故障，否则第2位有故障；将0X00与RDATA5异或运算，运算结果重新赋值RDATA5，将0X04与RDATA6异或运算，运算结果重新赋值RDATA6，将RDATA5与RDATA6异或运算，判断运算结果是否为0，如果为0，则数据口第3位无故障，否则第3位有故障；将0X00与RDATA7异或运算，运算结果重新赋值RDATA7，将0X08与RDATA8异或运算，运算结果重新赋值RDATA8，将RDATA7与RDATA8异或运算，判断运算结果是否为0，如果为0，则数据口第4位无故障，否则第4位有故障；将0X00与RDATA9异或运算，运算结果重新赋值RDATA9，将0X10与RDATA10异或运算，运算结果重新赋值RDATA10，将RDATA9与RDATA10异或运算，判断运算结果是否为0，如果为0，则数据口第5位无故障，否则第5位有故障；将0X00与RDATA11异或运算，运算结果重新赋值RDATA11，将0X20与RDATA12异或运算，运算结果重新赋值RDATA12，将RDATA11与RDATA12异或运算，判断运算结果是否为0，如果为0，则数据口第6位无故障，否则第6位有故障；将0X00与RDATA13异或运算，运算结果重新赋值RDATA13，将0X40与RDATA14异或运算，运算结果重新赋值RDATA14，将RDATA13与RDATA14异或运算，判断运算结果是否为0，如果为0，则数据口第7位无故障，否则第7位有故障；将0X00与RDATA15异或运算，运算结果重新赋值RDATA15，将0X80与RDATA16异或运算，运算结果重新赋值RDATA16，将RDATA15与RDATA16异或运算，判断运算结果是否为0，如果为0，则数据口第8位无故障，否则第8位有故障；d.IIC器件检测：根据IIC器件的通信控制协议，对IIC器件发送控制命令，判断在响应位有无SDA低电平，如果有，则IIC器件无故障，否则IIC器件有故障；e.三总线器件检测：根据三总线器件的通信控制协议，对三总线器件写入初始数据，再从输出端读出数据，判断写入数据与读出数据是否相同，如果相同，则三总线器件无故障，否则，三总线器件有故障。