[发明专利]数码产品故障检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及数码产品的检测技术，具体的说是涉及数码产品的故障检测方法。

背景技术

对于目前的数码产品的故障检测基本上都是由修理工凭维修经验找故障点，逐一排除，此方法对一些明显的故障维修还可以应付，但也很费时，效率极低，对一些隐性故障就显得无能为力。甚至无法发现这些隐性故障，导致可能是一些完全可以克服的故障也要更换元器件，增加了用户的维修成本。传统技术中还没有一种条理化、高效率的数码产品故障检测方法。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是：针对传统技术中数码产品故障不易检测，导致维修费用高、费时的问题，提出一种高效率的数码产品故障检测方法。

本发明解决上述技术问题所采用的技术方案是：数码产品故障检测方法，包括以下步骤：

a.主芯片检测：主芯片上电，系统初始化，通过控制锁相环寄存器，校准锁相环检测函数来判断主芯片时钟是否正常工作，并输出测试结果；向RAM寄存器中某个地址写入数据，再从该地址读出相应数据，判断写入数据与读出数据是否相同，并输出测试结果，以上两项测试如果均正常则主芯片无故障，否则主芯片有故障；

b.内存检测：数据口测试，包括：

b1.数据口第1位测试：在地址0X000000写入数据0X00，再从该地址读取数据，将读取的数据与0X00异或运算，运算结果赋值变量RDATA0；在地址0X000000写入数据0X01，再从该地址读取数据，将读取的数据与0X01异或运算，运算结果赋值变量RDATA1中；将RDATA0与RDATA1异或运算，判断运算结果是否为0，如果是，则数据口第1位无故障，否则第1位有故障；

b2.数据口第2位测试，在地址0X000000写入数据0X00，再从该地址读取数据，将读取的数据与0X00异或运算，运算结果赋值变量RDATA0；在地址0X000000写入数据0X02，再从该地址读取数据，将读取的数据与0X02异或运算，运算结果赋值变量RDATA1中；将RDATA0与RDATA1异或运算，判断运算结果是否为0，如果是，则数据口第2位无故障，否则第2位有故障；

b3.数据口第3位测试，在地址0X000000写入数据0X00，再从该地址读取数据，将读取的数据与0X00异或运算，运算结果赋值变量RDATA0；在地址0X000000写入数据0X03，再从该地址读取数据，将读取的数据与0X03异或运算，运算结果赋值变量RDATA1中；将RDATA0与RDATA1异或运算，判断运算结果是否为0，如果是，则数据口第3位无故障，否则第3位有故障；

b4.数据口第4位测试，在地址0X000000写入数据0X00，再从该地址读取数据，将读取的数据与0X00异或运算，运算结果赋值变量RDATA0；在地址0X000000写入数据0X04，再从该地址读取数据，将读取的数据与0X04异或运算，运算结果赋值变量RDATA1中；将RDATA0与RDATA1异或运算，判断运算结果是否为0，如果是，则数据口第4位无故障，否则第4位有故障；

b5.数据口第5位测试，在地址0X000000写入数据0X00，再从该地址读取数据，将读取的数据与0X00异或运算，运算结果赋值变量RDATA0；在地址0X000000写入数据0X05，再从该地址读取数据，将读取的数据与0X05异或运算，运算结果赋值变量RDATA1中；将RDATA0与RDATA1异或运算，判断运算结果是否为0，如果是，则数据口第5位无故障，否则第5位有故障；

b6.数据口第6位测试，在地址0X000000写入数据0X00，再从该地址读取数据，将读取的数据与0X00异或运算，运算结果赋值变量RDATA0；在地址0X000000写入数据0X06，再从该地址读取数据，将读取的数据与0X06异或运算，运算结果赋值变量RDATA1中；将RDATA0与RDATA1异或运算，判断运算结果是否为0，如果是，则数据口第6位无故障，否则第6位有故障；

b7.数据口第7位测试，在地址0X000000写入数据0X00，再从该地址读取数据，将读取的数据与0X00异或运算，运算结果赋值变量RDATA0；在地址0X000000写入数据0X07，再从该地址读取数据，将读取的数据与0X07异或运算，运算结果赋值变量RDATA1中；将RDATA0与RDATA1异或运算，判断运算结果是否为0，如果是，则数据口第7位无故障，否则第7位有故障；