[发明专利]用于提高位移/位置测量系统的可用性的方法无效
| 申请号： | 201010251023.1 | 申请日： | 2010-08-09 |
| 公开（公告）号： | CN101995886A | 公开（公告）日： | 2011-03-30 |
| 发明（设计）人： | S·泰布兰德尔;T·克里格列维;A·瓦尔曼 | 申请（专利权）人： | ABB技术股份公司 |
| 主分类号： | G05D3/12 | 分类号： | G05D3/12;F16K31/00 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 董华林 |
| 地址： | 瑞士*** | 国省代码： | 瑞士;CH |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于提高位移/位置测量系统的可用性的方法，所述位移/位置测量系统基于在封闭的调节回路中的滑动触头分压的电位器，该调节回路的调节器通过微控制器构成，滑动触头的位置经由模数转换器输送给该微控制器。在过程任务之外根据要求通过一系列调节参量的规定扫过电位器的传感器范围的至少一部分，并且以高的扫描率记录可用的表示位置数值的调节回路参量，通过调节回路参量关于配属的调节参量的评价，求得电位器的有故障的滑动触头位置的准确位置，并且在过程任务内调节回路的指令参量在有故障的位置的范围内确定地加重，使在位移/位置测量中避免有故障的滑动触头位置并到达功能正常的滑动触头位置。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 提高 位移 位置 测量 系统 可用性 方法 | ||
【主权项】：
用于提高位移/位置测量系统的可用性的方法，所述位移/位置测量系统基于在封闭的调节回路中的滑动触头分压的电位器，该调节回路的调节器通过微控制器构成，滑动触头的位置经由模数转换器输送给该微控制器，其特征在于：在过程任务之外根据要求通过一系列调节参量的规定扫过电位器的传感器范围的至少一部分，并且以高的扫描率记录可用的表示位置数值的调节回路参量，通过调节回路参量关于配属的调节参量的评价，求得电位器的有故障的滑动触头位置的准确位置，并且在过程任务内调节回路的指令参量确定地加重，使在位移/位置测量中避免有故障的滑动触头位置并到达功能正常的滑动触头位置。
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