[发明专利]完整或部分正电子发射断层造影衰减图的基于模型的估计有效

专利信息
申请号: 201010232204.X 申请日: 2010-07-16
公开(公告)号: CN101953693A 公开(公告)日: 2011-01-26
发明(设计)人: 马塞厄斯·芬谢尔;拉尔夫·雷德贝克;克里斯琴·J·米歇尔;查尔斯·C·沃森 申请(专利权)人: 西门子公司;美国西门子医疗解决公司
主分类号: A61B6/02 分类号: A61B6/02;A61B5/055
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 谢强
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明涉及完整或部分正电子发射断层造影衰减图的基于模型的估计。示例性实施例涉及一种在磁共振(MR)扫描器和正电子发射断层造影(PET)单元中校正衰减的方法。所述方法包括采集在PET单元的视野内部的对象的PET正弦图数据。所述方法还包括:基于参数化的模型实例和PET正弦图数据的最大似然性期望最大化(MLEM),产生衰减图。
搜索关键词: 完整 部分 正电子 发射 断层 造影 衰减 基于 模型 估计
【主权项】:
一种在磁共振(MR)扫描器和正电子发射断层造影(PET)单元中校正衰减的方法,所述方法包括:采集在PET单元的视野内部的对象的PET正弦图数据;和基于参数化的模型实例的和PET正弦图数据的最大似然性期望最大化(MLEM),产生衰减图。
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