[发明专利]完整或部分正电子发射断层造影衰减图的基于模型的估计

权利要求书

1.一种在磁共振(MR)扫描器和正电子发射断层造影(PET)单元中校正衰减的方法，所述方法包括：

采集在PET单元的视野内部的对象的PET正弦图数据；和

基于参数化的模型实例的和PET正弦图数据的最大似然性期望最大化(MLEM)，产生衰减图。

2.根据权利要求1所述的方法还包括：

采集在所述MR扫描器的视野内部的对象的MR数据；和

基于所采集的MR数据产生第一衰减图。

3.根据权利要求2所述的方法，其中，产生衰减图包括产生所述第一衰减图和第二衰减图。

4.根据权利要求3所述的方法，其中，所述第二衰减图提供在PET单元的视野内部的对象的PET正弦图数据的最大似然性，包括不是位于所述MR扫描器的视野内部的所有部分。

5.根据权利要求1所述的方法，其中，产生衰减图包括

产生模型，

通过模型参数来参数化该模型，以及

基于所采集的PET正弦图数据和所述参数化的模型来创建参数化的模型实例。

6.根据权利要求5所述的方法，其中，所述模型是统计学模型。

7.根据权利要求6所述的方法，其中，参数化所述统计学模型包括，通过形变参数、衰减参数和仿射参数来参数化该统计学模型。

8.根据权利要求6所述的方法，其中，产生所述统计学模型包括，对由示例性数据组的互相配准产生的形变区域和衰减图执行主成分分析。

9.根据权利要求1所述的方法，其中，产生衰减图包括，

产生模型，和

将该模型适应于初始衰减图，基于所适应的模型创建参数化的模型实例。

10.根据权利要求1所述的方法，其中，所述PET单元被配置为采集PET正弦图数据。

11.根据权利要求1所述的方法，其中，连接到所述MR扫描器和所述PET单元的计算机被配置为产生衰减图。

12.一种计算机可读的介质，当在计算机上运行时，被配置为指令计算机执行权利要求1所述的方法。

13.一种在磁共振(MR)扫描器和正电子发射断层造影(PET)单元中校正衰减的方法，该方法包括：

采集在PET单元的视野内部的对象的PET正弦图数据；

采集在MR扫描器的视野内部的对象的MR数据；

基于参数化的模型实例的和PET正弦图和MR数据的最大似然性期望最大化(MLEM)，产生衰减图，所述MLEM通过参数化的模型实例的模型参数而限制。

14.根据权利要求13所述的方法，其中，产生衰减图包括产生PET衰减图。

15.根据权利要求14所述的方法，其中，产生PET衰减图包括

产生模型，

通过模型参数来参数化所述模型，和

基于参数化的模型创建参数化的模型实例。

16.根据权利要求15所述的方法，其中，所述模型是统计学模型。

17.根据权利要求16所述的方法，其中，所述模型参数是形变参数和衰减外观参数。

18.根据权利要求17所述的方法，其中，所述模型参数还包括仿射参数。

19.根据权利要求14所述的方法，还包括：

产生MR衰减图。

20.根据权利要求13所述的方法，其中，产生衰减图包括，

产生模型，和

将所述模型适应于初始衰减图，基于所适应的模型创建参数化的模型实例。

21.根据权利要求13所述的方法，其中，所述PET单元被配置为采集PET正弦图数据。

22.根据权利要求13所述的方法，其中，连接到所述MR扫描器和所述PET单元的计算机被配置为产生所述衰减图。

23.根据权利要求13所述的方法，其中，所述MR扫描器被配置为采集MR数据。

24.一种计算机可读的介质，当在计算机上运行时，被配置为指令计算机执行权利要求13所述的方法。

25.一种设备，包括

正电子发射断层造影(PET)单元，包括多个探测单元，被配置为采集在该PET单元的视野内部的对象的PET正弦图数据；

磁共振(MR)扫描器，被配置为采集在该MR扫描器的视野内部的对象的MR数据；和

计算机，被配置为基于参数化的模型实例的和PET正弦图和MR数据的最大似然性期望最大化(MLEM)，产生衰减图，所述MLEM通过参数化的模型实例的模型参数限制。