[发明专利]溶剂微萃取富集-固体基质成像比色痕量分析方法无效
| 申请号： | 201010185925.X | 申请日： | 2010-05-16 |
| 公开（公告）号： | CN101852740A | 公开（公告）日： | 2010-10-06 |
| 发明（设计）人： | 丁宗庆;刘光东 | 申请（专利权）人： | 丁宗庆;刘光东 |
| 主分类号： | G01N21/78 | 分类号： | G01N21/78;G01N1/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 442700 湖北省十*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 一种溶剂微萃取富集-固体基质成像比色痕量分析方法，属于分析化学测定方法技术领域。使用微量的有机溶剂对液体环境样品进行分离富集，并利用固体基质进行数字式成像，用软件分析成像斑点，测定样品中痕量化合物的含量。该技术使用有机溶剂量少，环境友好，并具有成本低廉、灵敏度高、操作简便快速的优点。能够进行野外现场测定，可广泛的应用于环境监测分析。 | ||
| 搜索关键词： | 溶剂 萃取 富集 固体 基质 成像 比色 痕量 分析 方法 | ||
【主权项】：
一种溶剂微萃取富集-固体基质成像比色痕量分析方法，采用微量溶剂对液体样品中的目标化合物进行萃取分离富集，并对富集液进行数字式成像测定，其特征在于：将富集液定量点样于固体基质上进行数字成像。
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