[发明专利]一种荧光寿命测量方法及系统无效
| 申请号： | 201010182599.7 | 申请日： | 2010-05-24 |
| 公开（公告）号： | CN101832931A | 公开（公告）日： | 2010-09-15 |
| 发明（设计）人： | 邵永红;屈军乐;牛憨笨 | 申请（专利权）人： | 深圳大学 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64 |
| 代理公司： | 深圳中一专利商标事务所 44237 | 代理人： | 张全文 |
| 地址： | 518000 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明适用于光电检测领域，提供了一种荧光寿命测量方法及系统，所述荧光寿命测量方法包括以下步骤：产生激发光；将所述激发光分为多个子光束，所述多个子光束对应于样品的多个子区域；利用所述多个子光束，同时对所述多个子区域进行扫描，使各子区域内的荧光物质发出荧光；实时采集扫描时发出的所述荧光；分辨所述荧光的寿命信息。本发明实施例将激发光分为与样品上多个子区域一一对应的多个激发光子光束，利用激发光子光束对对应的测量子区域进行扫描，形成多线并行激发荧光，达到快速获取荧光寿命的目的，效率高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 荧光 寿命 测量方法 系统 | ||
【主权项】：
一种荧光寿命测量方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：产生激发光；将所述激发光分为多个子光束，所述多个子光束对应于样品的多个子区域；利用所述多个子光束，同时对所述多个子区域进行扫描，使各子区域内的荧光物质发出荧光；实时采集扫描时发出的所述荧光；分辨所述荧光的寿命信息。
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