[发明专利]一种荧光寿命测量方法及系统

权利要求书

1.一种荧光寿命测量方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：

产生激发光；

将所述激发光分为多个子光束，所述多个子光束对应于样品的多个子区域；

利用所述多个子光束，同时对所述多个子区域进行扫描，使各子区域内的荧光物质发出荧光；

实时采集扫描时发出的所述荧光；

分辨所述荧光的寿命信息。

2.如权利要求1所述的荧光寿命测量方法，其特征在于，所述扫描分为线扫描和步进扫描，具体过程为：

各子光束经聚焦形成激发光阵列点分别投射至样品的各个子区域，沿样品纵向对各子区域进行线扫描，各子区域内的荧光物质在所述激发光阵列点的作用下发出荧光；

对各个子区域的线扫描结束后，沿样品横向对各个子区域进行步进扫描即调整所述激发光阵列点在样品横向的位置；

循环执行所述线扫描和步进扫描，直至完成对样品各个子区域的扫描。

3.如权利要求1所述的荧光寿命测量方法，其特征在于，所述产生激发光的步骤之后还包括以下步骤：

调整所述激发光的尺寸并进行准直；并调整所述激发光的强度分布，使所述激发光的强度分布均匀；

所述将所述激发光分为多个子光束，所述多个子光束对应于样品的多个子区域的步骤之后还包括以下步骤：

准直各个所述子光束，使各个所述子光束成为平行光；

所述实时采集扫描时发出的所述荧光的步骤之前还包括以下步骤：

过滤所述荧光，将杂散光去除。

4.如权利要求1～3至任一项所述的荧光寿命测量方法，其特征在于，所述分辨所述荧光的寿命信息的步骤具体为：

将所述荧光的寿命信息转换为可分辨的空间信息，获取样品各点发出的荧光的寿命。

5.一种荧光寿命测量系统，其特征在于，所述系统包括：

激发光源，用于产生激发光；

分光器，用于将所述激发光分为多个子光束，所述多个子光束对应于样品的多个子区域；

第一扫描镜，用于将所述多个子光束调整至第二扫描镜；

第二扫描镜，用于将经所述第一扫描镜调整后的多个子光束调整至所述样品，使各子区域内的荧光物质发出荧光；

双色镜，用于导出所述荧光；

成像透镜，用于实时采集所述荧光；

扫描相机，用于分辨所述荧光的寿命信息；

探测器，用于记录所述荧光的寿命信息。

6.如权利要求5所述的荧光寿命测量系统，其特征在于，所述激发光源与分光器之间还设有：

扩束准直装置，用于调整所述激发光的尺寸并进行准直；以及

整形器，用于调整所述激发光的强度分布，使所述激发光的强度分布均匀。

7.如权利要求6所述的荧光寿命测量系统，其特征在于，所述分光器与第一扫描镜之间还设有：

准直器件，用于准直各个所述子光束，使各个所述子光束成为平行光。

8.如权利要求7所述的荧光寿命测量系统，其特征在于，所述第二扫描镜与样品之间还设有：

显微物镜，用于将各个所述子光束会聚于样品。

9.如权利要求8所述的荧光寿命测量系统，其特征在于，所述准直器件为管镜，所述分光器为微透镜阵列、衍射光学元件或分束器；所述管镜的后焦面与所述微透镜阵列的前焦面重合，所述管镜的前焦面与所述显微物镜的后焦面重合。

10.如权利要求5～9中任一项所述的荧光寿命测量系统，其特征在于，所述探测器的曝光时间大于等于所述第一扫描镜的一个扫描周期，所述第一扫描镜完成一个周期的线扫描或多个周期的线扫描后，所述第二扫描镜开始一个步进扫描，所述第二扫描镜完成一个步进扫描后，所述第一扫描镜重复所述线扫描；所述第一扫描镜扫描的方向与所述第二扫描镜步进扫描的方向相互垂直。