[发明专利]半导体器件及其制造方法有效
| 申请号: | 201010167008.9 | 申请日: | 2006-11-02 |
| 公开(公告)号: | CN101950732A | 公开(公告)日: | 2011-01-19 |
| 发明(设计)人: | 楠本直人;大泽信晴;汤川干央;道前芳隆 | 申请(专利权)人: | 株式会社半导体能源研究所 |
| 主分类号: | H01L21/77 | 分类号: | H01L21/77;H01L21/28;H01L27/32;H01L27/12;H01L29/45;H01L51/52;F21S2/00 |
| 代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 李进;高旭轶 |
| 地址: | 日本神奈*** | 国省代码: | 日本;JP |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | 提供功能更高且可靠的半导体器件和无需使装置或工艺复杂化就能够以高产率低成本制造该半导体器件的技术。形成第一导电层和第二导电层,其中至少一层含有铟、锡、铅、铋、钙、锰或锌中的一种或多种;或在有机化合物层与第一导电层之间和在有机化合物层与第二导电层之间的至少一个界面处进行氧化处理。在第一衬底上形成并与第一衬底之间夹着剥离层的第一导电层、有机化合物层和第二导电层可以借助剥离层从第一衬底上剥离并转置到第二衬底上。 | ||
| 搜索关键词: | 半导体器件 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
半导体器件制造方法,包括:在第一衬底上形成第一电极;对第一电极的表面进行氧化处理;对第一电极的表面进行氮化处理;形成与第一电极表面接触的有机化合物层;在有机化合物层上形成第二电极以制造包括第一电极、有机化合物层和第二电极的存储元件;将具有挠性的第二衬底粘贴到第二电极上;从第一衬底上剥离存储元件;和将该存储元件用粘合层粘贴到第三衬底上,其中,进行氧化处理以减小第一电极和有机化合物层之间的界面的界面张力。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





