[发明专利]应用于电子元件测试分类机的测试装置

摘要

本发明是一种应用于电子元件测试分类机的测试装置，所述的测试装置包含有第一、二升降机构以及一横移机构，其各设有一可作Z轴向位移的第一、二传动架，传动架的两端是滑置于第一、二Z轴向滑轨上，而横移机构是在第一、二直压杆架的两侧方设有两个X轴向滑轨，并具有两个可作X轴向位移的第一、二掣动架，掣动架的两端则滑置于X轴向滑轨上。如此，当第一、二取放器将电子元件的反作用力传导至第一、二传动架以及第一、二掣动架时，第一、二传动架以及第一、二掣动架可分别利用两端滑置限位于二第一、二Z轴向滑轨以及二X轴向滑轨而使受力平衡，以防止产生X-Y轴向力矩以及机件变形，达到提升取放元件精确性以及测试品质的实用效益。

主权项

一种应用于电子元件测试分类机的测试装置，所述的测试装置是配置在具有测试站以及载送装置的机台上，载送装置是在测试站的前、后方分别设有入、出料载台，其特征在于，所述的测试装置包含：第一升降机构：是在第一垂直向机架上设有一由第一Z轴向驱动源驱动作Z轴向位移的第一传动架，第一传动架的两端则滑置限位于第一垂直向机架的二第一Z轴向滑轨上，用来带动一具第一取放器的第一直压杆架作Z轴向位移；第二升降机构：是在第二垂直向机架上设有一由第二Z轴向驱动源驱动作Z轴向位移的第二传动架，第二传动架的两端则滑置限位于第二垂直向机架的二第二Z轴向滑轨上，用来带动一具第二取放器的第二直压杆架作Z轴向位移；横移机构：是在水平向机架上且相对第一、二升降机构的第一、二直压杆架两侧方设有两个X轴向滑轨，并具有两个由第一、二X轴向驱动源驱动作X轴向位移的第一、二掣动架，第一、二掣动架的两端滑置于两个X轴向滑轨上，并可分别带动第一、二直压杆架作X轴向位移，使得第一、二取放器能够分别在测试站以及载送装置的入、出料载台间移载待测/完测电子元件。