[发明专利]应用于电子元件测试分类机的测试装置

权利要求书

1.一种应用于电子元件测试分类机的测试装置，所述的测试装置是配置在具有测试站以及载送装置的机台上，载送装置是在测试站的前、后方分别设有入、出料载台，其特征在于，所述的测试装置包含：

第一升降机构：是在第一垂直向机架上设有一由第一Z轴向驱动源驱动作Z轴向位移的第一传动架，第一传动架的两端则滑置限位于第一垂直向机架的二第一Z轴向滑轨上，用来带动一具第一取放器的第一直压杆架作Z轴向位移；

第二升降机构：是在第二垂直向机架上设有一由第二Z轴向驱动源驱动作Z轴向位移的第二传动架，第二传动架的两端则滑置限位于第二垂直向机架的二第二Z轴向滑轨上，用来带动一具第二取放器的第二直压杆架作Z轴向位移；

横移机构：是在水平向机架上且相对第一、二升降机构的第一、二直压杆架两侧方设有两个X轴向滑轨，并具有两个由第一、二X轴向驱动源驱动作X轴向位移的第一、二掣动架，第一、二掣动架的两端滑置于两个X轴向滑轨上，并可分别带动第一、二直压杆架作X轴向位移，使得第一、二取放器能够分别在测试站以及载送装置的入、出料载台间移载待测/完测电子元件。

2.根据权利要求1所述的应用于电子元件测试分类机的测试装置，其特征在于：所述的第一升降机构的第一Z轴向驱动源是由第一Z轴向马达、第一皮带轮组、第一Z轴向螺杆以及第一Z轴向螺座所组成，并以第一Z轴向螺座连结第一传动架。

3.根据权利要求1所述的应用于电子元件测试分类机的测试装置，其特征在于：所述的第一升降机构的第一传动架是在两端设有第一Z轴向滑座，用来滑置于第一垂直向机架的第一Z轴向滑轨上，另在第一传动架与第一直压杆架间设有相互配合的第一X轴向滑轨以及第一X轴向滑座。

4.根据权利要求1所述的应用于电子元件测试分类机的测试装置，其特征在于：所述的第二升降机构的第二Z轴向驱动源是由第二Z轴向马达、第二皮带轮组、第二Z轴向螺杆以及第二Z轴向螺座所组成，并以第二Z轴向螺座连结第二传动架。

5.根据权利要求1所述的应用于电子元件测试分类机的测试装置，其中，所述的第二升降机构的第二传动架是在两端设有第二Z轴向滑座，用来滑置于第二垂直向机架的第二Z轴向滑轨上，另在第二传动架与第二直压杆架间设有相互配合的第二X轴向滑轨以及第二X轴向滑座。

6.根据权利要求1所述的应用于电子元件测试分类机的测试装置，其特征在于：所述的第一升降机构的第一直压杆架是分别在底面相对于其直杆位置的两侧设有第一取放器，又所述的第二升降机构的第二直压杆架是分别在底面相对于其直杆位置的两侧设有第二取放器。

7.根据权利要求1所述的应用于电子元件测试分类机的测试装置，其特征在于：所述的横移机构的第一X轴向驱动源是由第一X轴向马达、第一皮带轮组、第一X轴向螺杆以及第一X轴向螺座所组成，并以第一X轴向螺座连结第一掣动架，又所述的第二X轴向驱动源是由第二X轴向马达、第二皮带轮组、第二X轴向螺杆以及第二X轴向螺座所组成，并以第二X轴向螺座连结第二掣动架。

8.根据权利要求1所述的应用于电子元件测试分类机的测试装置，其特征在于：所述的横移机构是在第一掣动架的两端设有第一X轴向滑座，用来滑置于水平向机架底面的二X轴向滑轨上，另在所述的第一掣动架与第一直压杆架间设有相互配合的第一Z轴向滑座以及第一Z轴向滑轨。

9.根据权利要求1所述的应用于电子元件测试分类机的测试装置，其特征在于：所述的横移机构是在第二掣动架的两端设有第二X轴向滑座，用来滑置于水平向机架底面的二X轴向滑轨上，另在所述的第二掣动架与第二直压杆架间设有相互配合的第二Z轴向滑座以及第二Z轴向滑轨。

10.根据权利要求1所述的应用于电子元件测试分类机的测试装置，其特征在于：所述的测试装置在水平向机架上设有一取像机构，该取像机构为CCD。