[发明专利]射频指标测试系统及其控制方法无效
申请号: | 201010137703.0 | 申请日: | 2010-03-31 |
公开(公告)号: | CN101834678A | 公开(公告)日: | 2010-09-15 |
发明(设计)人: | 夏俊;张勇 | 申请(专利权)人: | 华为技术有限公司 |
主分类号: | H04B17/00 | 分类号: | H04B17/00 |
代理公司: | 深圳市深佳知识产权代理事务所(普通合伙) 44285 | 代理人: | 彭愿洁;李文红 |
地址: | 518129 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明实施例公开了射频指标测试系统及其控制方法,应用于通信技术领域。本发明实施例的系统中包括基站,基站生成测试控制信号,将测试控制信号与被测信号承载到射频信号的不同频段,并将承载后的射频信号发送给射频指标测试仪器,这样射频指标测试仪器就根据测试控制信号控制对被测信号的测试。本发明实施例中射频产品如基站即可控制射频指标测试仪器对该射频产品的测试,而不需要额外的设备来进行控制,简化了对射频指标测试的结构,降低对生产测试环境和射频产品如基站开局的现场测试环境的搭建要求。 | ||
搜索关键词: | 射频 指标 测试 系统 及其 控制 方法 | ||
【主权项】:
一种射频指标测试系统,其特征在于,包括:基站;所述基站,用于生成测试控制信号,所述测试控制信号用于指示射频指标测试仪器对该基站的被测信号进行测试;将所述被测信号和测试控制信号承载到射频信号的不同频段,并将承载后的射频信号发送给射频指标测试仪器;以便所述射频指标测试仪器根据所述射频信号中的测试控制信号控制对所述被测信号的测试。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华为技术有限公司,未经华为技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201010137703.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种移动终端多媒体资源访问方法和装置
- 下一篇:井下人工放射性储层流体分析仪