[发明专利]射频指标测试系统及其控制方法无效
申请号: | 201010137703.0 | 申请日: | 2010-03-31 |
公开(公告)号: | CN101834678A | 公开(公告)日: | 2010-09-15 |
发明(设计)人: | 夏俊;张勇 | 申请(专利权)人: | 华为技术有限公司 |
主分类号: | H04B17/00 | 分类号: | H04B17/00 |
代理公司: | 深圳市深佳知识产权代理事务所(普通合伙) 44285 | 代理人: | 彭愿洁;李文红 |
地址: | 518129 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 射频 指标 测试 系统 及其 控制 方法 | ||
技术领域
本发明涉及通信技术领域,特别涉及射频指标测试系统及其控制方法。
背景技术
如图1所示的自动测试设备(Auto Test Equipment,ATE)系统包括自动测试设备、射频指标测试仪器及射频产品如基站(Base Station,BS),其中:自动测试设备通过第二控制接口控制基站向射频指标测试仪器提供测试参数;并通过第一控制接口控制射频指标测试仪器对基站的射频指标进行测试;而基站是通过射频信号(Radio Frequency,RF)将被测信号提供给射频标识测试仪器的。
上述测试方法的实现,需要通过自动控制设备与射频指标测试仪器之间的第一控制接口如网口,或串口,或通用接口总线(General Purpose InterfaceBus,GPIB)等接口的通信;且需要通过基站与自动控制设备之间的第二控制接口如网口、串口、快速以太网口(Fast Ethernet,FE)及千兆以太网口(Gigabit Ethernet,GE)等接口的通信,才能实现对基站的射频指标测试。
这样通过ATE系统进行射频指标测试时,在硬件配置和软件配置上都需要有很多接口的配置,整体系统复杂,对于生产测试环境和射频产品如基站开局的现场测试环境的搭建要求比较高。
发明内容
本发明实施例提供射频指标测试系统及其控制方法,简化对射频产品的射频指标测试结构。
本发明实施例提供一种射频指标测试系统,包括:基站;
所述基站,用于生成测试控制信号,所述测试控制信号用于指示射频指标测试仪器对该基站的被测信号进行测试;将所述被测信号和测试控制信号承载到射频信号的不同频段,并将承载后的射频信号发送给射频指标测试仪器;以便所述射频指标测试仪器根据所述射频信号中的测试控制信号控制对所述被测信号的测试。
本发明实施例提供一种射频指标测试系统,其特征在于,包括:基站和射频测试转换装置;
所述基站,用于生成测试控制信号,所述测试控制信号用于指示射频指标测试仪器对该基站的被测信号进行测试;将所述被测信号和测试控制信号承载到射频信号的不同频段,并将承载后的射频信号发送给射频测试转化装置;
所述射频测试转换装置,用于将所述射频信号中不同频段的测试控制信号和被测信号分离,将所述测试控制信号通过控制传输接口发送给射频指标测试仪器,并通过被测传输接口将所述被测信号发送给射频指标测试仪器;以便所述射频指标测试仪器根据所述测试控制信号控制对所述被测信号的测试。
本发明实施例提供一种射频指标测试的控制方法,包括:
生成测试控制信号,所述测试控制信号用于指示射频指标测试仪器对该基站的被测信号进行测试;
将所述被测信号和测试控制信号承载到射频信号的不同频段,并将承载后的射频信号发送给射频指标测试仪器;以便所述射频指标测试仪器根据所述测试控制信号控制对所述被测信号的测试。
本发明实施例提供一种射频指标测试的控制方法,包括:
接收基站发送的射频信号,所述射频信号包括测试控制信号和被测信号;所述测试控制信号用于指示射频指标测试仪器对该基站的被测信号进行测试;
分离所述射频信号得到测试控制信号,根据所述测试控制信号,控制对所述被测信号的测试。
本发明实施例提供一种射频指标测试的控制方法,包括:
接收基站发送的射频信号,所述射频信号包括测试控制信号和被测信号;所述测试控制信号用于指示射频指标测试仪器对该基站的被测信号进行测试;
分离所述射频信号得到测试控制信号,根据所述测试控制信号,确定接收所述测试控制信号的射频指标测试仪器;
将所述测试控制信号发送给所述射频指标测试仪器,以便所述射频指标测试仪器根据所述测试控制信号控制对所述被测信号的测试。
本发明实施例的系统中包括基站,基站生成测试控制信号,将测试控制信号与被测信号承载到射频信号的不同频段,并将承载后的射频信号发送给射频指标测试仪器,这样射频指标测试仪器就根据测试控制信号控制对被测信号的测试。和现有技术中需要通过另外的自动测试设备对射频指标测试仪器的测试进行控制相比,本发明实施例中射频产品如基站即可控制射频指标测试仪器对该射频产品的测试,而不需要额外的设备来进行控制,简化了对射频指标测试的结构,降低对生产测试环境和射频产品如基站开局的现场测试环境的搭建要求。
附图说明
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