[发明专利]一种处理X线平板探测器图像坏线的方法及其装置有效
申请号: | 201010135142.0 | 申请日: | 2010-03-24 |
公开(公告)号: | CN101795349A | 公开(公告)日: | 2010-08-04 |
发明(设计)人: | 刘炎;孙文武 | 申请(专利权)人: | 深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司 |
主分类号: | H04N5/14 | 分类号: | H04N5/14;H04N5/202;G01N23/04;G01V3/12 |
代理公司: | 深圳市君胜知识产权代理事务所 44268 | 代理人: | 杨宏 |
地址: | 518057 广东省深圳市南*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明提供了一种处理X线平板探测器图像坏线的方法及其装置,其方法包括:检测X线平板探测器图像中的坏线的位置;在待处理的X线平板探测器图像中,用包含所述坏线的图像子区域内的图像数据估计坏线处的图像像素的细节信息;在细节估计后的图像中,用坏线的邻域内的非坏线图像像素的图像数据计算补偿量,补偿坏线处的图像像素的图像数据。本发明可以利用坏线处的灰度异常通过软件方法自动识别出坏线并保存坏线位置,然后将坏线处的图像细节信息利用坏线邻域的正常像素(即非坏线图像像素)进行灰度补偿,使得坏线处图像灰度过渡自然。 | ||
搜索关键词: | 一种 处理 平板 探测器 图像 方法 及其 装置 | ||
【主权项】:
一种处理X线平板探测器图像坏线的方法,其特征在于:包括:坏线检测步骤:检测X线平板探测器图像中的坏线的位置;细节估计步骤:在待处理的X线平板探测器图像中,用包含所述坏线的图像子区域内的图像数据估计所述坏线处的图像像素的细节信息,获得细节估计后的图像;灰度补偿步骤:在所述细节估计后的图像中,用所述坏线的邻域内的非坏线图像像素的图像数据计算补偿量,补偿所述坏线处的图像像素的图像数据。
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