[发明专利]一种处理X线平板探测器图像坏线的方法及其装置有效
| 申请号: | 201010135142.0 | 申请日: | 2010-03-24 |
| 公开(公告)号: | CN101795349A | 公开(公告)日: | 2010-08-04 |
| 发明(设计)人: | 刘炎;孙文武 | 申请(专利权)人: | 深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司 |
| 主分类号: | H04N5/14 | 分类号: | H04N5/14;H04N5/202;G01N23/04;G01V3/12 |
| 代理公司: | 深圳市君胜知识产权代理事务所 44268 | 代理人: | 杨宏 |
| 地址: | 518057 广东省深圳市南*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 处理 平板 探测器 图像 方法 及其 装置 | ||
1.一种处理X线平板探测器图像坏线的方法,其特征在于:包括:
坏线检测步骤:检测X线平板探测器图像中的坏线的位置;
细节估计步骤:在待处理的X线平板探测器图像中,用包含所述坏线的图像子区域内的图像数据估计所述坏线处的图像像素的细节信息,获得细节估计后的图像;
灰度补偿步骤:在所述细节估计后的图像中,用所述坏线的邻域内的非坏线图像像素的图像数据计算补偿量,补偿所述坏线处的图像像素的图像数据;所述灰度补偿步骤包括:
A2、对所述坏线的邻域内的图像沿行或列方向分段,获得子段集合,所述子段集合中包括坏线像素和非坏线图像像素;
B2、对每个子段集合分别计算行或列累加和,得到每个子段的行或列累加向量;
C2、在所述每个子段的行或列累加向量中,用所述非坏线图像像素的分量进行插值或拟合运算,计算所述坏线对应的估计分量,获得每个子段的坏线的估计向量;
D2、根据所述坏线的估计向量和所述行或列累加向量,计算每个子段的坏线的灰度补偿向量,所述灰度补偿向量中每个元素对应为一坏线行或坏线列的补偿量;
E2、将所述每一个子段集合中的坏线行或坏线列的图像数据加上所述坏线行或坏线列对应的补偿量,获得灰度补偿结果。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述细节估计步骤包括:
在所述待处理的X线平板探测器图像中,选择包含所述坏线的图像子区域;
在所述图像子区域内,对所述待处理的X线平板探测器图像进行频域滤波处理,处理后的图像即为细节估计后的图像。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于:其中在所述图像子区域内,对所述待处理的X线平板探测器图像进行频域滤波处理包括:
将所述图像子区域的图像数据变换到频域,获得所述图像子区域的频域数据;
对所述频域数据进行滤波,其中在所述坏线方向上为全通滤波,在垂直所述坏线的方向上为低通滤波;
将滤波后的频域数据反变换到时域,获得频域滤波处理后的图像子区域;
将所述频域滤波处理后的图像子区域中坏线的图像数据赋予原图像子区域中的坏线,替换原图像子区域的坏线的图像数据。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于:其中所述低通滤波使用非理想滤波器,其中低通滤波的截止频率为fs/2,其中fs为采样频率。
5.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于:所述坏线检测步骤和细节估计步骤之间还包括:
将所述坏线处的图像数据重置为极值。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述坏线检测步骤包括:
累加图像中每一行或每一列所有像素的灰度值,获得图像的行累加灰度向量或列累加灰度向量;
将所述行累加灰度向量或列累加灰度向量中分量的取值作为横坐标,将此横坐标的每个取值、在所述行累加灰度向量或列累加灰度向量中对应出现的次数作为纵坐标,构建直方图;
计算所述行累加灰度向量或列累加灰度向量的均值和标准差,以均值 为中心,以所述标准差为步进累加所述直方图,以剩余直方图是否还再变化作为约束条件进行循环累加处理,当剩余直方图不再变化时,则判定是坏线对应的直方图。
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