[发明专利]透镜透射光均匀度量测系统及方法无效
| 申请号： | 201010131881.2 | 申请日： | 2010-03-25 |
| 公开（公告）号： | CN102200472A | 公开（公告）日： | 2011-09-28 |
| 发明（设计）人： | 韦安琪;萧明扬;杨宏彬;陈昱树 | 申请（专利权）人： | 富士迈半导体精密工业（上海）有限公司;沛鑫能源科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01J1/00 | 分类号： | G01J1/00;G01M11/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 201600 上海市松江区*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种透镜透射光均匀度量测系统，其包括：一光源、一屏幕、一取像装置及一处理器。所述光源用于发射平行光到待测透镜上。所述屏幕用于承载所述光源发射到待测透镜上的平行光经过待测透镜会聚后形成的光斑。所述取像装置用于获取所述屏幕上的光斑的图像。所述处理器用于分析取像装置获取的光斑图像中的光照度分布情况，从而得到待测透镜的透射光的均匀度。本发明还涉及一种透镜透射光均匀度量测方法。 | ||
| 搜索关键词： | 透镜 透射 均匀 度量 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种透镜透射光均匀度量测系统，其包括：一光源，用于发射平行光到待测透镜上；一屏幕，用于承载所述光源发射到待测透镜上的平行光经过待测透镜会聚后形成的光斑；一取像装置，用于获取所述屏幕上的光斑的图像；以及一处理器，用于分析取像装置获取的光斑图像中的光照度分布情况，从而得到待测透镜的透射光的均匀度。
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