[发明专利]聚光镜集光效率的检测装置及方法无效
申请号: | 201010121793.4 | 申请日: | 2010-02-11 |
公开(公告)号: | CN102156038A | 公开(公告)日: | 2011-08-17 |
发明(设计)人: | 沈伟;徐永明;李远林 | 申请(专利权)人: | 光燿科技股份有限公司 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02;F21V13/00;F21Y101/02 |
代理公司: | 隆天国际知识产权代理有限公司 72003 | 代理人: | 郑小军;冯志云 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明公开了一种聚光镜集光效率的检测装置及方法,其方法包括如下步骤:首先,将一稳定且发光均匀的平面光源置于一黑箱的一开口处,将一待测聚光镜置于黑箱的另一开口处;其次,将一光传感器先后置于待测聚光镜的焦点处及待测聚光镜位置处;再者,记录光传感器测量的待测聚光镜所收集到的入射光的能量及平面光源于待测聚光镜位置处的照射能量;接着,测量待测聚光镜的收光面积和光传感器的感光面积;最后,计算出待测聚光镜的集光效率为:待测聚光镜收集到的入射光的能量与平面光源于待测聚光镜位置处的照射能量的比值再乘上光传感器的感光面积与待测聚光镜的收光面积的比值。如此,经由本发明聚光镜集光效率的检测装置及方法,可检测到更稳定且更接近于实际太阳光照射时聚光镜的集光效率。 | ||
搜索关键词: | 聚光镜 效率 检测 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种聚光镜集光效率的检测装置,其特征在于,包括:一相对两端皆设有一开口的黑箱、一平面光源、一待测聚光镜及一光传感器,平面光源置于其中一开口处;待测聚光镜可活动地装设于另一开口处,光传感器可活动地分别装设于待测聚光镜处及待测聚光镜焦点处,以记录平面光源于待测聚光镜处及待测聚光镜焦点处的照射能量。
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