[发明专利]聚光镜集光效率的检测装置及方法无效

专利信息
申请号: 201010121793.4 申请日: 2010-02-11
公开(公告)号: CN102156038A 公开(公告)日: 2011-08-17
发明(设计)人: 沈伟;徐永明;李远林 申请(专利权)人: 光燿科技股份有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02;F21V13/00;F21Y101/02
代理公司: 隆天国际知识产权代理有限公司 72003 代理人: 郑小军;冯志云
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 聚光镜 效率 检测 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种聚光镜集光效率的检测装置,其特征在于,包括:一相对两端皆设有一开口的黑箱、一平面光源、一待测聚光镜及一光传感器,平面光源置于其中一开口处;待测聚光镜可活动地装设于另一开口处,光传感器可活动地分别装设于待测聚光镜处及待测聚光镜焦点处,以记录平面光源于待测聚光镜处及待测聚光镜焦点处的照射能量。

2.如权利要求1所述的聚光镜集光效率的检测装置,其特征在于:所述平面光源与待测聚光镜中心同轴,黑箱内部涂黑或者设置挡板。

3.如权利要求1所述的聚光镜集光效率的检测装置,其特征在于:所述黑箱两开口之间相距距离不小于19.1倍的待测聚光镜的口径与平面光源孔径的和。

4.如权利要求1所述的聚光镜集光效率的检测装置,其特征在于:所述平面光源采用多色LED构成的背光源。

5.如权利要求1所述的聚光镜集光效率的检测装置,其特征在于:还包括用以校正平面光源的输出光能量变化的参考光传感器。

6.如权利要求5所述的聚光镜集光效率的检测装置,其特征在于:所述参考光传感器设置于黑箱开口端之外的平面光源表面上。

7.如权利要求5所述的聚光镜集光效率的检测装置,其特征在于:所述参考光传感器设置于黑箱内不阻挡平面光源光线的位置。

8.如权利要求5所述的聚光镜集光效率的检测装置,其特征在于:所述黑箱内不遮挡平面光源光线处设置一反射镜,并于黑箱对应反射镜位置处开设一开孔,所述参考光传感器设置于黑箱外对应开孔处。

9.如权利要求1所述的聚光镜集光效率的检测装置,其特征在于:其还包括用来转折引导由平面光源照射待测聚光镜的光线至聚光镜的单片或数片反射镜,所述反射镜设置于黑箱内的平面光源和待测聚光镜之间。

10.一种聚光镜集光效率的检测方法,其特征在于,包括如下步骤:

首先,将一稳定且发光均匀的平面光源置于黑箱的一开口处,将一待测聚光镜置于黑箱的另一开口处;

其次,将一光传感器先后置于待测聚光镜的焦点处及待测聚光镜位置处;

再者,记录光传感器测量的待测聚光镜收集到的入射光的能量及平面光源于待测聚光镜位置处的照射能量;

接着,测量待测聚光镜的收光面积和光传感器的感光面积;

最后,计算出待测聚光镜的集光效率=待测聚光镜收集到的入射光的能量/(平面光源于待测聚光镜位置处的照射能量×待测聚光镜的收光面积/光传感器的感光面积)。

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