[发明专利]按照压力接触方式实施的功率半导体模块有效

专利信息
申请号: 201010004906.2 申请日: 2010-01-20
公开(公告)号: CN101794742A 公开(公告)日: 2010-08-04
发明(设计)人: 马库斯·克内贝尔;彼得·贝克达尔 申请(专利权)人: 赛米控电子股份有限公司
主分类号: H01L23/367 分类号: H01L23/367;H01L23/473
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 车文;樊卫民
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 介绍了一种按照压力接触方式实施的功率半导体模块(10),用于设置在冷却构件(12)上。该功率半导体模块(10)具有至少一个衬底(14),在所述衬底(14)上设置有功率半导体器件(20)。压力装置(26)用于使所述功率半导体器件(20)在所述至少一个衬底(14)上压力接触导通,以及用于从所述衬底(14)至冷却构件(12)的导热。将所述压力装置(26)构造为主动式冷却装置(28)。在根据本发明的功率半导体模块中,对于功率半导体器件的冷却方案得到改善。
搜索关键词: 按照 压力 接触 方式 实施 功率 半导体 模块
【主权项】:
按照压力接触方式实施的功率半导体模块,用于设置在冷却构件(12)上,所述功率半导体模块具有至少一个衬底(14)和压力装置(26),在所述衬底(14)上设置有功率半导体器件(20),所述压力装置(26)用于使所述功率半导体器件(20)在所述至少一个衬底(14)上压力接触导通,以及用于将所述至少一个衬底(14)以导热的方式设置在所述冷却构件(12)上,其特征在于,将所述压力装置(26)构造为主动式冷却装置(28)。
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