[发明专利]太赫兹检查装置有效
| 申请号： | 200980153214.X | 申请日： | 2009-12-16 |
| 公开（公告）号： | CN102272578A | 公开（公告）日： | 2011-12-07 |
| 发明（设计）人： | 尾内敏彦;笠井信太郎 | 申请（专利权）人： | 佳能株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/35 | 分类号： | G01N21/35 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 魏小薇 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 在检查装置或方法中，可同时获取被检体的厚度和特性的值或者它们的分布。检查装置包括：部分9，用于用放射线照射被检体2；部分10，用于检测来自被检体的放射线；获取部分26；存储部分21和计算部分20。获取部分获取与放射线的检测时间相关联的传送时间以及放射线的振幅。存储部分事先存储传送时间和振幅与被检体的特性的代表性值之间的关系数据。计算部分基于传送时间、振幅和关系数据，获得被检体的厚度和特性的值。 | ||
| 搜索关键词： | 赫兹 检查 装置 | ||
【主权项】：
一种用于检查被检体的装置，该装置包含：照射部分，用于用放射线照射被检体；检测部分，用于检测来自被照射的被检体的放射线；获取部分，用于获取与由检测部分检测的放射线的检测时间相关联的来自照射部分的放射线的传送时间以及由检测部分检测的放射线的振幅；存储部分，用于事先存储传送时间和振幅与被检体的特性的代表性值之间的关系数据；和计算部分，用于基于所述传送时间、所述振幅和存储于存储部分中的关系数据，获得被检体的厚度和特性的值。
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