[发明专利]光学断层图像摄像设备有效
| 申请号: | 200980152988.0 | 申请日: | 2009-12-24 |
| 公开(公告)号: | CN102264279A | 公开(公告)日: | 2011-11-30 |
| 发明(设计)人: | 汤浅堂司;齐藤贤一 | 申请(专利权)人: | 佳能株式会社 |
| 主分类号: | A61B3/10 | 分类号: | A61B3/10;A61B5/00;G01B9/02;G01N21/47 |
| 代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | 提供了一种光学断层图像摄像设备,其在使用多个光的OCT设备的情况下,可以抑制分辨率和感光度等的偏差,并且可以减少用于使光学特性均衡的组件的数量以使得可以降低成本。该光学断层图像摄像设备用于获得被检体的断层图像,其包括:光学特性调整单元,用于调整均包括多个光的测量光、参考光和干涉光至少之一的光学特性。该光学特性调整单元由包括如下测量光的各组所共享,该测量光是包括多个光的测量光之中的、相对于照射光学系统的光轴的距离大致相同的测量光。 | ||
| 搜索关键词: | 光学 断层 图像 摄像 设备 | ||
【主权项】:
一种光学断层图像摄像设备,用于通过将包括多个光的测量光经由用于利用测量光照射要测量的被检体的不同位置的照射光学系统引导至所述被检体、并且在光谱处理部中处理通过在合成单元中将由所述被检体反射或散射的包括多个光的测量光的返回光与包括多个光的参考光进行合成所生成的干涉光,来获得所述被检体的断层图像,所述光学断层图像摄像设备包括:光学特性调整单元,用于调整均包括多个光的测量光、参考光和干涉光至少之一的光学特性,其中,所述光学特性调整单元由包括如下测量光的各组所共享:该测量光是包括多个光的测量光之中的、相对于所述照射光学系统的光轴的距离大致相同的测量光。
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