[发明专利]光学断层图像摄像设备有效

专利信息
申请号: 200980152988.0 申请日: 2009-12-24
公开(公告)号: CN102264279A 公开(公告)日: 2011-11-30
发明(设计)人: 汤浅堂司;齐藤贤一 申请(专利权)人: 佳能株式会社
主分类号: A61B3/10 分类号: A61B3/10;A61B5/00;G01B9/02;G01N21/47
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 提供了一种光学断层图像摄像设备,其在使用多个光的OCT设备的情况下,可以抑制分辨率和感光度等的偏差,并且可以减少用于使光学特性均衡的组件的数量以使得可以降低成本。该光学断层图像摄像设备用于获得被检体的断层图像,其包括:光学特性调整单元,用于调整均包括多个光的测量光、参考光和干涉光至少之一的光学特性。该光学特性调整单元由包括如下测量光的各组所共享,该测量光是包括多个光的测量光之中的、相对于照射光学系统的光轴的距离大致相同的测量光。
搜索关键词: 光学 断层 图像 摄像 设备
【主权项】:
一种光学断层图像摄像设备,用于通过将包括多个光的测量光经由用于利用测量光照射要测量的被检体的不同位置的照射光学系统引导至所述被检体、并且在光谱处理部中处理通过在合成单元中将由所述被检体反射或散射的包括多个光的测量光的返回光与包括多个光的参考光进行合成所生成的干涉光,来获得所述被检体的断层图像,所述光学断层图像摄像设备包括:光学特性调整单元,用于调整均包括多个光的测量光、参考光和干涉光至少之一的光学特性,其中,所述光学特性调整单元由包括如下测量光的各组所共享:该测量光是包括多个光的测量光之中的、相对于所述照射光学系统的光轴的距离大致相同的测量光。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于佳能株式会社,未经佳能株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200980152988.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top