[发明专利]光学断层图像摄像设备有效
| 申请号: | 200980152988.0 | 申请日: | 2009-12-24 |
| 公开(公告)号: | CN102264279A | 公开(公告)日: | 2011-11-30 |
| 发明(设计)人: | 汤浅堂司;齐藤贤一 | 申请(专利权)人: | 佳能株式会社 |
| 主分类号: | A61B3/10 | 分类号: | A61B3/10;A61B5/00;G01B9/02;G01N21/47 |
| 代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 光学 断层 图像 摄像 设备 | ||
1.一种光学断层图像摄像设备,用于通过将包括多个光的测量光经由用于利用测量光照射要测量的被检体的不同位置的照射光学系统引导至所述被检体、并且在光谱处理部中处理通过在合成单元中将由所述被检体反射或散射的包括多个光的测量光的返回光与包括多个光的参考光进行合成所生成的干涉光,来获得所述被检体的断层图像,所述光学断层图像摄像设备包括:
光学特性调整单元,用于调整均包括多个光的测量光、参考光和干涉光至少之一的光学特性,
其中,所述光学特性调整单元由包括如下测量光的各组所共享:该测量光是包括多个光的测量光之中的、相对于所述照射光学系统的光轴的距离大致相同的测量光。
2.根据权利要求1所述的光学断层图像摄像设备,其特征在于,所述光学特性调整单元是以下之一:
配置在参考光侧的调整单元,用于对测量光和参考光之间的光路长度差进行调整;
配置在参考光侧的补偿单元,用于补偿测量光侧和参考光侧之间的波长色散差异;
配置在参考光侧、测量光侧、光源侧和光谱处理部侧之一的光量调整单元,用于调整光量;以及
配置在测量光侧的调整单元,用于调整所述照射光学系统的像差。
3.根据权利要求1所述的光学断层图像摄像设备,其特征在于,所述光谱处理部是数据处理部,所述数据处理部用于通过针对包括相对于所述光轴的距离大致相同的测量光的各组使用用于校正所述光学特性的参数,来进行数据处理。
4.根据权利要求3所述的光学断层图像摄像设备,其特征在于,所述数据处理部包括以下的单元:该单元用于通过针对包括相对于所述光轴的距离大致相同的测量光的各组共享色散补偿用的参数,来进行数据处理。
5.根据权利要求1所述的光学断层图像摄像设备,其特征在于,以下的光路均包括光纤和块体之一:
用于将来自光源的光引导至该光被分割成测量光和参考光的位置的光路;
用于将测量光引导至所述被检体的光路;
用于将参考光引导至参考镜的光路;以及
用于将通过合成测量光的返回光和由所述参考镜反射的参考光所获得的干涉光引导至所述光谱处理部的光路。
6.一种光学断层图像摄像设备,用于通过将包括多个光的测量光经由用于利用测量光照射要测量的被检体的不同位置的照射光学系统引导至所述被检体、并且在光谱处理部中处理通过在合成单元中将由所述被检体反射或散射的包括多个光的测量光的返回光与包括多个光的参考光进行合成所生成的干涉光,来获得所述被检体的断层图像,所述光学断层图像摄像设备包括:
光学特性调整单元,用于调整均包括多个光的测量光、参考光和干涉光至少之一的光学特性,
其中,所述光学特性调整单元根据包括多个光的测量光相对于所述照射光学系统的光轴的距离而变化。
7.根据权利要求6所述的光学断层图像摄像设备,其特征在于,所述光学特性调整单元由包括相对于所述光轴的距离大致相同的测量光的各组所共享。
8.一种计算机可读存储介质,用于存储用于使计算机执行使用根据权利要求1所述的光学断层图像摄像设备的摄像方法的程序。
9.一种程序,用于使计算机执行使用根据权利要求1所述的光学断层图像摄像设备的摄像方法。
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