[发明专利]自动分析装置有效

专利信息
申请号: 200980145748.8 申请日: 2009-11-12
公开(公告)号: CN102216784A 公开(公告)日: 2011-10-12
发明(设计)人: 山崎功夫;石泽宏明;足立作一郎 申请(专利权)人: 株式会社日立高新技术
主分类号: G01N35/00 分类号: G01N35/00;G01N21/27
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 许静;郭凤麟
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 提供一种精度高的自动分析装置,使宽的浓度范围的测定和低浓度下的高灵敏度化两者都能实现。来自光源(40)的基于微小粒子的光吸收的感度高的多个波长(λ1)到(λ12)的信号由分光光度系统(检测器)(41)变换为吸光度。使用事前定义的变换表(54)把吸光度变换为消除了噪声部分的二次参数,根据该二次参数用运算部(计算单元)(53)计算被测定物质(预定成分)的浓度。由此,即使在低浓度下也能抵抗噪声而且直到高浓度进行分析。
搜索关键词: 自动 分析 装置
【主权项】:
一种自动分析装置,其特征在于,具有:多个反应容器;试样探针,其向所述反应容器喷出试样;试药探针,其向喷出有所述试样的所述反应容器喷出试药;光源,其对于喷出有所述试样和所述试药的所述反应容器照射光;检测器,其检测来自所述光源的、透过了所述反应容器的多个波长的光;以及计算单元,其根据二次参数和所述试样中的预定成分的浓度的关系来计算所述浓度,所述二次参数是使用所述检测器的所述多个波长的信号并且使用事前定义的变换表或者变换式变换后的二次参数。
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