[发明专利]自动分析装置有效
| 申请号: | 200980145748.8 | 申请日: | 2009-11-12 |
| 公开(公告)号: | CN102216784A | 公开(公告)日: | 2011-10-12 |
| 发明(设计)人: | 山崎功夫;石泽宏明;足立作一郎 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立高新技术 |
| 主分类号: | G01N35/00 | 分类号: | G01N35/00;G01N21/27 |
| 代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 许静;郭凤麟 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 自动 分析 装置 | ||
1.一种自动分析装置,其特征在于,具有:
多个反应容器;
试样探针,其向所述反应容器喷出试样;
试药探针,其向喷出有所述试样的所述反应容器喷出试药;
光源,其对于喷出有所述试样和所述试药的所述反应容器照射光;
检测器,其检测来自所述光源的、透过了所述反应容器的多个波长的光;以及
计算单元,其根据二次参数和所述试样中的预定成分的浓度的关系来计算所述浓度,所述二次参数是使用所述检测器的所述多个波长的信号并且使用事前定义的变换表或者变换式变换后的二次参数。
2.根据权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
所述多个波长的信号在被变换为吸光度后,被变换为使用所述多个波长的吸光度的值计算出的所述二次参数。
3.根据权利要求2所述的自动分析装置,其特征在于,
所述吸光度的波长依存性用表示信号成分的波长依存性的函数和表示噪声成分的波长依存性的函数的合成进行表示。
4.根据权利要求3所述的自动分析装置,其特征在于,
所述合成通过表示所述信号成分的波长依存性的函数和表示所述噪声成分的波长依存性的函数的线性结合进行表示,各个表示所述波长依存性的函数的系数用最小二乘法来求。
5.根据权利要求3所述的自动分析装置,其特征在于,
所述信号成分的波长依存性用所述波长的系数是负的指数函数进行表示。
6.根据权利要求5所述的自动分析装置,其特征在于,
所述系数根据测定的种类设定为不同的值。
7.根据权利要求3所述的自动分析装置,其特征在于,
所述噪声成分的波长依存性对于所述波长用定值表示。
8.根据权利要求2所述的自动分析装置,其特征在于,
在所述预定成分的浓度的计算中不使用所述吸光度比预定的值高的波长的测定值。
9.根据权利要求2所述的自动分析装置,其特征在于,
对于从所述多个波长的吸光度的值中减去预定的波长的吸光度的值的吸光度差,使用依存于所述多个波长的增益函数以及加权函数计算二次参数。
10.根据权利要求9所述的自动分析装置,其特征在于,
所述加权函数以如下的方式进行变化:在所述吸光度分别是相对大的波长以及小的波长时变小,在所述吸光度是所述大的波长和所述小的波长之间的波长时变大。
11.根据权利要求9所述的自动分析装置,其特征在于,
所述增益函数用波长的指数函数进行表示。
12.根据权利要求11所述的自动分析装置,其特征在于,
所述波长的系数根据测定的种类设定为不同的值。
13.根据权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
在所述反应容器内的反应进行的过程中进行多次的测定,预先调查在各次测定中得到的所述二次参数的值、变化量或者变化的斜率与所述浓度的关系,根据其关系计算所述试样中的预定成分的浓度。
14.一种自动分析装置,其特征在于,具有:
多个反应容器;
试样探针,其向所述反应容器喷出试样;
试药探针,其向喷出有所述试样的所述反应容器喷出试药;
光源,其对于喷出有所述试样和所述试药的所述反应容器照射光;
检测器,其检测来自所述光源的、透过了所述反应容器的多个波长的光;和
计算单元,其使用基于包含有所述预定成分的凝集物的光吸收的所述多个波长的吸光度和反映噪声成分的波长的吸光度,计算所述试样中的预定成分的浓度。
15.根据权利要求14所述的自动分析装置,其特征在于,
在所述预定成分的浓度的计算中不使用所述吸光度比预定的值高的波长的测定值。
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