[发明专利]颗粒物性测量装置

摘要

本发明提供一种颗粒物性测量装置，该颗粒物性测量装置的光检测部件尽管具有单一的结构，但可以确保测量精度，而且可以尽可能减少光学元件的数量，从而可以实现抑制成本的增加和减少调整部位。颗粒物性测量装置(1)具有作为照射光学系统机构(2)的入射一侧的偏振镜(24)和入射一侧的1/4波片(25)，并且具有作为受光光学系统机构(3)的能够以试样池(4)为中心转动到多个角度位置的出射一侧的1/4波片(33)和出射一侧的偏振镜(34)，在光路上设置不会使偏振光状态改变的减光部件(23)，控制利用减光部件(23)的减光率，使得在各测量位置的检测光强度在光检测部件(31)的测量范围内。

主权项

一种颗粒物性测量装置，其特征在于包括：透明试样池，容纳使微小的颗粒分散在分散介质中构成的试样；照射光学系统机构，具有光源以及在从该光源射出的一次光到达所述试样池的光路上顺序设置的入射一侧的偏振镜和入射一侧的1/4波片；受光光学系统机构，具有检测接收到的光的强度的光检测部件以及在由所述试样池中的所述颗粒散射后的二次光到达所述光强度检测部件的光路上顺序设置的出射一侧的1/4波片和出射一侧的偏振镜，该受光光学系统机构被支承成能够以所述试样池为中心转动；减光部件，以不改变偏振光的状态且能够使衰减率改变的方式，使所述一次光或所述二次光减弱；角度控制部，将所述受光光学系统机构控制在多个转动角度位置，并且在各个转动角度位置将所述出射一侧的偏振镜的偏振光角度控制在多个角度；减光率控制部，控制所述减光部件的减光率，使得在所述各个转动角度位置的各个偏振光角度的检测光强度在所述光检测部件的测量范围内；以及物性计算部，根据在所述各个转动角度位置的各个偏振光角度的减光率和减光后的检测光强度，计算所述颗粒的物性。