[发明专利]颗粒物性测量装置

权利要求书

1.一种颗粒物性测量装置，其特征在于包括：

透明试样池，容纳使微小的颗粒分散在分散介质中构成的试样；

照射光学系统机构，具有光源以及在从该光源射出的一次光到达所述试样池的光路上顺序设置的入射一侧的偏振镜和入射一侧的1/4波片；

受光光学系统机构，具有检测接收到的光的强度的光检测部件以及在由所述试样池中的所述颗粒散射后的二次光到达所述光强度检测部件的光路上顺序设置的出射一侧的1/4波片和出射一侧的偏振镜，该受光光学系统机构被支承成能够以所述试样池为中心转动；

减光部件，以不改变偏振光的状态且能够使衰减率改变的方式，使所述一次光或所述二次光减弱；

角度控制部，将所述受光光学系统机构控制在多个转动角度位置，并且在各个转动角度位置将所述出射一侧的偏振镜的偏振光角度控制在多个角度；

减光率控制部，控制所述减光部件的减光率，使得在所述各个转动角度位置的各个偏振光角度的检测光强度在所述光检测部件的测量范围内；以及

物性计算部，根据在所述各个转动角度位置的各个偏振光角度的减光率和减光后的检测光强度，计算所述颗粒的物性。

2.根据权利要求1所述的颗粒物性测量装置，其特征在于，所述物性计算部计算所述颗粒的纵横比和凝聚度等与颗粒形状有关的物性值。

3.根据权利要求1所述的颗粒物性测量装置，其特征在于，所述减光部件包括：多个减光镜，各个减光镜的减光率不同；以及减光镜变更机构，选择性地把所述减光镜中的任意一个插入所述一次光或所述二次光的光路上。

4.根据权利要求2所述的颗粒物性测量装置，其特征在于，所述减光镜变更机构具备转动支承板，在该转动支承板的周向边缘部排列设置多个所述减光镜，通过使所述转动支承板转动，来使任意一个所述减光镜位于所述一次光或所述二次光的光路上。

5.根据权利要求1所述的颗粒物性测量装置，其特征在于，能够把所述受光光学系统机构配置在透射过所述试样池的一次光的延长线上，从而能够利用所述光检测部件测量透射过所述试样池的透射光的强度。

6.根据权利要求1所述的颗粒物性测量装置，其特征在于，还包括粒径分布计算部，该粒径分布计算部根据利用所述光检测部件检测出的光强度的波动，计算粒径分布。

7.根据权利要求6所述的颗粒物性测量装置，其特征在于，在利用所述粒径分布计算部进行粒径分布测量时，所述角度控制部根据所述试样中的颗粒浓度，变更所述受光光学系统机构的转动角度位置。

8.一种颗粒物性测量装置，其特征在于包括：

透明试样池，容纳使微小的颗粒分散在分散介质中构成的试样；

照射光学系统机构，具有光源以及在从该光源射出的一次光到达所述试样池的光路上顺序设置的入射一侧的偏振镜和入射一侧的1/4波片；

受光光学系统机构，具有检测接收到的光的强度的光检测部件以及在由所述试样池中的颗粒散射后的二次光到达所述光强度检测部件的光路上顺序设置的出射一侧的1/4波片和出射一侧的偏振镜，该受光光学系统机构被支承成能够以所述试样池为中心转动；

角度控制部，使所述受光光学系统机构以所述试样池为中心转动，以将所述受光光学系统机构控制在多个测量角度位置，并且在各个测量角度位置将所述出射一侧的偏振镜的偏振光角度控制在多个角度；

修正参数存储部，分别存储在所述各个测量角度位置的检测光强度的修正参数；以及

物性计算部，根据作为在所述各个测量角度位置的各个偏振光角度的检测光强度的试样检测光强度和所述修正参数，计算与所述颗粒的形状有关的物性。

9.根据权利要求8所述的颗粒物性测量装置，其特征在于，向成为无颗粒状态的所述试样池照射一次光，获得在所述各个测量角度位置的检测光强度，并且把该检测光强度作为所述修正参数使用。

10.根据权利要求8所述的颗粒物性测量装置，其特征在于，所述受光光学系统机构还具有配置在所述光检测部件前方的狭缝，通过所述光检测部件接收经过所述狭缝的二次光，所述狭缝在与所述受光光学系统机构的转动面垂直的方向上延伸。