[发明专利]纳米结构存储器件无效
申请号: | 200980126703.6 | 申请日: | 2009-07-02 |
公开(公告)号: | CN102099913A | 公开(公告)日: | 2011-06-15 |
发明(设计)人: | L·萨穆尔森;C·塞兰德;J·奥尔森;A·米克尔森 | 申请(专利权)人: | 昆南诺股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/105 | 分类号: | H01L27/105;H01L29/02;H01L29/06;H01L29/12;H01L29/80 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 李娜;卢江 |
地址: | 瑞典*** | 国省代码: | 瑞典;SE |
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摘要: | 本发明提供一种纳米结构存储器件,其包括形成电流输送沟道的至少一半导体纳米线(3),设置在该纳米线(3)的至少一部分周围的一个或多个壳层(4),和嵌入到所述一个或多个壳层(4)的纳米尺寸电荷俘获中心(10),以及至少设置在所述一个或多个壳层(4)的相应部分的一个或多个栅电极(14)。优选地,所述一个或多个壳层(4)由宽带隙材料或绝缘体制成。通过使用所述一个或多个栅电极(14),该电荷俘获中心(10)可被充电/写入,并且存储在电荷俘获中心(10)的一个或多个中的电荷量的变化改变纳米线(3)的导电性。 | ||
搜索关键词: | 纳米 结构 存储 器件 | ||
【主权项】:
一种纳米结构存储器件,其特征在于:形成电流输送沟道的至少一半导体纳米线(3);设置在该纳米线(3)的至少一部分的周围的一个或多个壳层(4);嵌入到所述一个或多个壳层(4)的纳米尺寸电荷俘获中心(10),其中存储在该电荷俘获中心(10)的一个或多个中的电荷量的变化改变该纳米线(3)的导电性;以及至少第一栅电极(14),设置在所述一个或多个壳层(4)的至少一部分的周围以便控制存储在所述栅电极(14)之下的所述电荷俘获中心(10)内的电荷量。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
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H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的