[发明专利]纳米结构存储器件无效

专利信息
申请号: 200980126703.6 申请日: 2009-07-02
公开(公告)号: CN102099913A 公开(公告)日: 2011-06-15
发明(设计)人: L·萨穆尔森;C·塞兰德;J·奥尔森;A·米克尔森 申请(专利权)人: 昆南诺股份有限公司
主分类号: H01L27/105 分类号: H01L27/105;H01L29/02;H01L29/06;H01L29/12;H01L29/80
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 李娜;卢江
地址: 瑞典*** 国省代码: 瑞典;SE
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摘要: 发明提供一种纳米结构存储器件,其包括形成电流输送沟道的至少一半导体纳米线(3),设置在该纳米线(3)的至少一部分周围的一个或多个壳层(4),和嵌入到所述一个或多个壳层(4)的纳米尺寸电荷俘获中心(10),以及至少设置在所述一个或多个壳层(4)的相应部分的一个或多个栅电极(14)。优选地,所述一个或多个壳层(4)由宽带隙材料或绝缘体制成。通过使用所述一个或多个栅电极(14),该电荷俘获中心(10)可被充电/写入,并且存储在电荷俘获中心(10)的一个或多个中的电荷量的变化改变纳米线(3)的导电性。
搜索关键词: 纳米 结构 存储 器件
【主权项】:
一种纳米结构存储器件,其特征在于:形成电流输送沟道的至少一半导体纳米线(3);设置在该纳米线(3)的至少一部分的周围的一个或多个壳层(4);嵌入到所述一个或多个壳层(4)的纳米尺寸电荷俘获中心(10),其中存储在该电荷俘获中心(10)的一个或多个中的电荷量的变化改变该纳米线(3)的导电性;以及至少第一栅电极(14),设置在所述一个或多个壳层(4)的至少一部分的周围以便控制存储在所述栅电极(14)之下的所述电荷俘获中心(10)内的电荷量。
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