[发明专利]光学相干断层分析设备、方法及系统有效
申请号: | 200980119252.3 | 申请日: | 2009-03-17 |
公开(公告)号: | CN102046067B | 公开(公告)日: | 2017-10-31 |
发明(设计)人: | 亚历山大·C·沃尔什;保罗·G·厄普代克;斯瑞尼瓦·R·瑟达 | 申请(专利权)人: | 多汉尼眼科研究所 |
主分类号: | A61B3/10 | 分类号: | A61B3/10 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司11021 | 代理人: | 王波波 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 根据本发明的一个方案,提供了一种光学相干断层分析设备,包括目镜,用于容纳用户的至少一只眼睛;光源,用于输出光,光穿过目镜照进用户的眼睛;干涉仪,配置用于使用从用户眼睛反射的光产生光学干涉;光学检测器,布置用于检测所述光学干涉;以及与该检测器耦合的电子装置。该电子装置可以配置用于基于利用干涉仪所获得的光学相干断层分析测量结果来执行风险评估分析。输出装置可以与该电子装置电耦合,并且可以配置用于通过该输出装置来向用户输出风险评估结果。该光学相干断层分析设备可以是自操控的,并且目镜可以是单目镜系统或双目镜系统。 | ||
搜索关键词: | 光学 相干 断层 分析 设备 方法 系统 | ||
【主权项】:
一种光学相干断层分析设备,包括:第一和第二接目镜,用于分别容纳对象的第一和第二眼睛;光源,用于输出光,光穿过所述第一接目镜照进对象的所述第一眼睛;干涉仪,配置用于使用从对象的所述第一眼睛反射的光产生光学干涉;光学检测器,布置用于检测所述光学干涉;电子装置,与所述光学检测器耦合,并且配置用于基于利用所述干涉仪所获得的光学相干断层分析测量结果来执行风险评估;输出装置,与该电子装置电耦合,所述输出装置配置用于输出风险评估结果;至少一个自动聚焦透镜,设置在所述光源和所述对象的第一眼睛之间的光路上,以便将来自所述光源的光聚焦于所述对象的第一眼睛并反射以及从所述对象的第一眼睛反射的光行进穿过所述至少一个自动聚焦透镜以产生光学干涉,所述至少一个自动聚焦透镜配置用于根据检测到的光学干涉来使所述设备聚焦;瞳孔间距调整装置,配置为辅助所述对象进行瞳孔间距调整;以及Z定位模块,配置为自动且独立地调整每个接目镜的Z偏移。
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