[发明专利]非易失性存储元件、非易失性存储装置和向非易失性存储元件的数据写入方法有效
| 申请号: | 200980000538.X | 申请日: | 2009-04-13 |
| 公开(公告)号: | CN101689548A | 公开(公告)日: | 2010-03-31 |
| 发明(设计)人: | 三谷觉;神泽好彦;片山幸治;魏志强;高木刚 | 申请(专利权)人: | 松下电器产业株式会社 |
| 主分类号: | H01L27/10 | 分类号: | H01L27/10;H01L45/00;H01L49/00 |
| 代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司 | 代理人: | 龙 淳 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | 本发明提供非易失性存储元件、非易失性存储装置和向非易失性存储元件的数据写入方法。本发明的非易失性存储元件包括第一电极(503)、第二电极(505)、和介于第一电极与第二电极之间的电阻变化层(504),第一电极与第二电极间的电阻值根据施加于第一电极与第二电极之间的正负两极性的电信号可逆地发生变化,其中,电阻变化层包含氧不足型的铪氧化物,第一电极和第二电极由不同的元素构成,构成第一电极的元素的标准电极电位V1、构成第二电极的元素的标准电极电位V2、和铪的标准电极电位V0的关系,满足V1<V2且V0<V2。 | ||
| 搜索关键词: | 非易失性 存储 元件 装置 数据 写入 方法 | ||
【主权项】:
1.一种非易失性存储元件,其包括第一电极、第二电极、和介于所述第一电极与所述第二电极之间的电阻变化层,所述第一电极与所述第二电极间的电阻值根据施加于所述第一电极与所述第二电极之间的正负两极性的电信号可逆地发生变化,该非易失性存储元件的特征在于:所述电阻变化层包含氧不足型的铪氧化物,所述第一电极和所述第二电极由不同的元素构成,构成所述第一电极的元素的标准电极电位V1、构成所述第二电极的元素的标准电极电位V2、和铪的标准电极电位V0的关系,满足V1<V2且V0<V2。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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