[发明专利]非易失性存储元件、非易失性存储装置和向非易失性存储元件的数据写入方法有效

专利信息
申请号: 200980000538.X 申请日: 2009-04-13
公开(公告)号: CN101689548A 公开(公告)日: 2010-03-31
发明(设计)人: 三谷觉;神泽好彦;片山幸治;魏志强;高木刚 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: H01L27/10 分类号: H01L27/10;H01L45/00;H01L49/00
代理公司: 北京尚诚知识产权代理有限公司 代理人: 龙 淳
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供非易失性存储元件、非易失性存储装置和向非易失性存储元件的数据写入方法。本发明的非易失性存储元件包括第一电极(503)、第二电极(505)、和介于第一电极与第二电极之间的电阻变化层(504),第一电极与第二电极间的电阻值根据施加于第一电极与第二电极之间的正负两极性的电信号可逆地发生变化,其中,电阻变化层包含氧不足型的铪氧化物,第一电极和第二电极由不同的元素构成,构成第一电极的元素的标准电极电位V1、构成第二电极的元素的标准电极电位V2、和铪的标准电极电位V0的关系,满足V1<V2且V0<V2。
搜索关键词: 非易失性 存储 元件 装置 数据 写入 方法
【主权项】:
1.一种非易失性存储元件,其包括第一电极、第二电极、和介于所述第一电极与所述第二电极之间的电阻变化层,所述第一电极与所述第二电极间的电阻值根据施加于所述第一电极与所述第二电极之间的正负两极性的电信号可逆地发生变化,该非易失性存储元件的特征在于:所述电阻变化层包含氧不足型的铪氧化物,所述第一电极和所述第二电极由不同的元素构成,构成所述第一电极的元素的标准电极电位V1、构成所述第二电极的元素的标准电极电位V2、和铪的标准电极电位V0的关系,满足V1<V2且V0<V2。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于松下电器产业株式会社,未经松下电器产业株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200980000538.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top