[实用新型]一种指针表集成电路测试装置无效
| 申请号： | 200920131116.3 | 申请日： | 2009-04-28 |
| 公开（公告）号： | CN201417296Y | 公开（公告）日： | 2010-03-03 |
| 发明（设计）人： | 刘伟;王健 | 申请（专利权）人： | 深圳安博电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳中一专利商标事务所 | 代理人： | 张全文 |
| 地址： | 518000广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型适用于测试的技术领域，提供了一种指针表集成电路测试装置，装置包括：对被测集成电路的电气参数进行采集的针卡；根据针卡采集的电气参数进行处理，输出测试结果信号的测试单元；与测试单元连接，根据测试结果信号并输出控制信号的主控制模块；显示测试结果的显示模块；分别与主控制模块和显示模块连接的从控制模块，接收主控制模块输出的控制信号，控制显示模块显示。在本实用新型中，该指针表集成电路测试装置采用主控制模块和从控制模块，从控制模块专门负责控制显示模块显示，从而分担了主控制模块的工作，缩短了测试时间，也降低了测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 指针 集成电路 测试 装置 | ||
【主权项】：
1、一种指针表集成电路测试装置，其特征在于，所述装置包括：用于装载被测集成电路的探针台；对被测集成电路的电气参数进行采集的针卡；根据所述针卡采集的电气参数进行处理，输出测试结果信号的测试单元；分别与所述针卡和测试单元连接的选通模块，通过不同的通道选通，实现所述针卡与测试单元中不同测试模块的连接；与所述测试单元连接，根据所述测试结果信号并输出控制信号的主控制模块；显示测试结果的显示模块；分别与所述主控制模块和显示模块连接的从控制模块，接收主控制模块输出的控制信号，控制所述显示模块显示；以及分别与所述主控制模块和探针台连接的通讯模块，实现主控制模块和探针台之间的信号通讯。
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